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場發(fā)射掃描電鏡產(chǎn)品及廠家

蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡
sigma是一款具有 gemini 鏡筒設(shè)計(jì),用于成像及分析應(yīng)用的高性能熱場發(fā)射掃描電鏡。gemini 鏡筒的特點(diǎn)是高亮度肖特基場發(fā)射電子源、電子束加速器和 in-lens 二次電子探測器。在獲得高成像質(zhì)量的基礎(chǔ)上還具有良好的易用性。
更新時(shí)間:2024-12-17
發(fā)射掃描電鏡
特點(diǎn):1. 優(yōu)秀的低加速電壓成像能力,1kv分辨率可達(dá)1.3nm2. 日立專利的exb設(shè)計(jì),不需噴鍍,可以直接觀測不導(dǎo)電樣品3. upper探頭可選擇接受二次電子像或背散射電子像4. 可以根據(jù)樣品類型和觀測要求選擇打開或關(guān)閉減速功能5. 標(biāo)配有冷指、電子槍內(nèi)置加熱器,物鏡光闌具有自清潔功能6. 儀器的烘烤維護(hù)及烘烤后的透鏡機(jī)械對中均可由用戶自行完成
更新時(shí)間:2024-12-13
臺(tái)式掃描電鏡
臺(tái)式掃描電鏡 2013年5月7日,日立高新技術(shù)公司推出臺(tái)式掃描電鏡tm3030。 日立高新生產(chǎn)和銷售的電子顯微鏡廣泛用于各行業(yè)的研究和開發(fā)、質(zhì)量管理等,包括納米技術(shù)和生物技術(shù)領(lǐng)域。臺(tái)式顯微鏡目前在全世界范圍內(nèi)廣泛使用,主要應(yīng)用領(lǐng)域包括私營企業(yè)、政府機(jī)關(guān)、科學(xué)博物館、以及教育機(jī)構(gòu)如大學(xué)、學(xué)院、小學(xué)和初中學(xué)校。臺(tái)式
更新時(shí)間:2024-12-13
飛納臺(tái)式掃描電鏡 Phenom 超大樣品臺(tái)
超大樣品臺(tái)(標(biāo)配,僅適用于 phenom xl)phenom xl 電鏡腔室由原來的 32 mm 擴(kuò)容為 100 mm x 100 mm,一次可容納至多 36 個(gè) 1/2 英寸樣品臺(tái)樣品最大尺寸:長 100 mm;寬 100 mm;高度 65 mm用這個(gè)樣品臺(tái)可以對各種各樣的樣品成像
更新時(shí)間:2024-12-10
飛納臺(tái)式掃描電鏡 Phenom 標(biāo)準(zhǔn)金相樣品杯
設(shè)計(jì)用于冶金/金相樣品的觀察(鑲嵌在樹脂里)最大尺寸:直徑32mm;高度30mm
更新時(shí)間:2024-12-10
 飛納臺(tái)式電鏡 Phenom 微型電子器件插件
微型電子元器件插件是設(shè)計(jì)用來最小化制樣時(shí)間的。插件配合金相樣品杯使用。
更新時(shí)間:2024-12-10
飛納臺(tái)式掃描電鏡 Phenom  X 斷面觀測插件
微型電子元器件插件是設(shè)計(jì)用來最小化制樣時(shí)間的。插件配合金相樣品杯使用。
更新時(shí)間:2024-12-10
飛納臺(tái)式掃描電鏡 Phenom Pure
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。基于高亮度 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng),phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm,同時(shí)具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2024-12-10
飛納臺(tái)式掃描電鏡Phenom Pure
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。基于高亮度 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng),phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm,同時(shí)具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2024-12-10
臺(tái)式場發(fā)射掃描電鏡
秉承飛納臺(tái)式掃描電鏡系列全自動(dòng)操作、快速成像、不噴金觀看不導(dǎo)電樣品、完全防震、性能穩(wěn)定的特點(diǎn),荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺(tái)式掃描電鏡 phenom pharos g2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發(fā)射電子源,使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像,分辨率優(yōu)于 1.5nm
更新時(shí)間:2024-12-10
日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡
日立高新技術(shù)公司(以下簡稱:日立高新)8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射掃描電子顯微鏡“su5000“,搭載了全新的用戶界面和“em wizard“,無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時(shí)間:2024-12-06
SU3800  日立中型掃描電鏡
 日立中型掃描電鏡su38001) 支持超大/超重樣品測試  可搭載的 大樣品尺寸:“su3800” 標(biāo)配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉,可應(yīng)對 大高度為80mm、重量為2k
更新時(shí)間:2024-12-02
TM4000 II / TM4000Plus I  日立臺(tái)式掃描電鏡
日立臺(tái)式掃描電鏡tm4000 ii / tm4000plus i臺(tái)式顯微鏡作為掃描電子顯微鏡(sem)在生物技術(shù)和材料等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。該系列由日立高新技術(shù)于2005年4月開始銷售,可放在辦公桌上,
更新時(shí)間:2024-12-02
SU3900  日立大型掃描電鏡
日立大型掃描電鏡su3900在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域里,從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分,sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴(kuò)大,但對于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大
更新時(shí)間:2024-12-02
日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡
日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡此外,為一次性獲取大量信息,單次掃描像素?cái)U(kuò)展到了40,960 x 30,720(選配),是之型號(hào)的64倍。利用這一功能,可憑借一張數(shù)據(jù)圖像有效評(píng)估多處局部的細(xì)微結(jié)構(gòu)。在fe-sem的觀察和分析中,需要根據(jù)測量樣品與需求調(diào)整觀察條件。調(diào)整所需時(shí)間的長短取決于用戶的操作熟練度,這是造成數(shù)據(jù)質(zhì)量與效率差異的因素之一。此系列產(chǎn)品標(biāo)配自動(dòng)調(diào)整功能,可避免人為操作導(dǎo)
更新時(shí)間:2024-12-02
日立大型掃描電鏡
日立大型掃描電鏡近年來為了實(shí)現(xiàn)各種材料的高功能化和高性能化,需要觀察并優(yōu)化材料的微細(xì)結(jié)構(gòu)。目sem的應(yīng)用除了以往的研究開發(fā)以外,已擴(kuò)展到質(zhì)量和生產(chǎn)管理方面,使用頻率日益高漲。同時(shí)市場也對儀器的操作性能提出了更高的要求,以進(jìn)一步減輕操作人員的負(fù)擔(dān)  此次發(fā)
更新時(shí)間:2024-12-02
日立臺(tái)式掃描電鏡
可根據(jù)不同樣品設(shè)置不同的觀察條件 樣品倉內(nèi)的真空度及加速電壓有多種選擇,可根據(jù)需求自行設(shè)置。簡化尋找視野、圖像拍攝、圖像確認(rèn)等一系列操作過程(選配) 在樣品倉上可選配光學(xué)相機(jī),樣品開始觀察先拍攝樣品的整體照片,雙擊照片上的樣品,即可實(shí)現(xiàn)照片導(dǎo)航功能。
更新時(shí)間:2024-12-02
日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡
日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡這次新開發(fā)的"su5000"對用戶沒有任何操作技巧上的要求,通過”em wizard“只要選擇好觀察目的就可以得到好照片。"em wizard"以人為本的設(shè)計(jì)理念使電鏡的操作性大幅上升,對于用戶來說,再也不用去討論該用什么條件進(jìn)行觀察,只要按照觀察目的選擇”表面細(xì)節(jié)觀察“或是”成分分布“等就可以自動(dòng)將適合的觀察條件設(shè)置好。除此之外,使用經(jīng)驗(yàn)豐富的操作人員也可以像往常一樣
更新時(shí)間:2024-12-02
SU5000  日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡
日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡su5000--搭載用戶界面,向所有用戶提供高畫質(zhì)圖像--       日立高新技術(shù)公司(以下簡稱:日
更新時(shí)間:2024-12-02
SU8700  日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡
日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡su8700fe-sem獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等領(lǐng)
更新時(shí)間:2024-12-02
THz近場顯微鏡
teracube thz近場顯微鏡利用高性能太赫茲探針,結(jié)合時(shí)域泵浦探測系統(tǒng)成為thz近場系統(tǒng)可以進(jìn)行高分辨率的成像研究。teracube scientific和新的teracube scientific m2是全自動(dòng)太赫茲近場掃描系統(tǒng),可以在光學(xué)實(shí)驗(yàn)室中運(yùn)行。
更新時(shí)間:2024-10-28
日立熱場發(fā)射掃描電鏡
更新時(shí)間:2024-10-25
超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡
"regulus系列"是日立高新技術(shù)的fe-sem的全新品牌,包括作為su8010的后續(xù)機(jī)型開發(fā)的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級(jí) "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240",共4個(gè)機(jī)型,均實(shí)現(xiàn)了分辨率和操作性的強(qiáng)化。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡
日立高新技術(shù)公司(以下簡稱:日立高新)8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射掃描電子顯微鏡"su5000",搭載了全新的用戶界面和"em wizard",無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8200系列
日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8200系列(hitachi uhr fe-sem su8200 series,su8220,su8230,su8240)采用日立高新技術(shù)公司全新開發(fā)的冷場電子槍,實(shí)現(xiàn)超高分辨率下觀察的同時(shí),穩(wěn)定的束流亦可滿足長時(shí)間下的分析需求。在日立高新的新型冷場發(fā)射掃描電鏡(fe-sem)su8200系列中,有su8220、su8230、su8240三款機(jī)型,于5月20日開始
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需最大300萬倍穩(wěn)定觀察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件,高分辨成像所設(shè)計(jì)。新的電子槍和電子光學(xué)設(shè)計(jì)提高了低加速電壓性能。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新分析超高分辨率肖特基熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日立高新分析超高分辨率肖特基熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡su-70 是一種新概念掃描電子顯微鏡。日立高新分析超高分辨率肖特基熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡su-70采用了日立經(jīng)過實(shí)地驗(yàn)證的 “semi-in-lens”超高分辨率技術(shù)以及肖特基熱場發(fā)射電子槍技術(shù)。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8000系列
日立高新超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8000系列(hitachi uhr fe-sem su8000 series,su8010,su8020,su8030,su8040)具有共同的卓越功能,諸如超高分辨率技術(shù)(1.3nm/1.0kv),信號(hào)探測系統(tǒng)范圍廣,可操作性強(qiáng),便于用戶操作等。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡SU5000
--搭載全新用戶界面,向所有用戶提供高畫質(zhì)圖像-- 日立高新技術(shù)公司(以下簡稱:日立高新)8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射掃描電子顯微鏡"su5000",搭載了全新的用戶界面和"em wizard",無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片
更新時(shí)間:2024-10-25
日立臺(tái)式大氣壓掃描電鏡AeroSurf 1500
、微電腦液晶顯示屏,可在線實(shí)時(shí)監(jiān)測ro水和up水水質(zhì)2、采用一柱雙芯一體式純化柱,更換簡單,使用壽命長3、監(jiān)控濾芯更換周期,中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進(jìn)口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂,保證產(chǎn)水水質(zhì)進(jìn)水要求
更新時(shí)間:2024-10-25
日立200kV球差校正透射電鏡HF5000
日立發(fā)布的200kv球差校正透射電鏡hf5000,具有高穩(wěn)定冷場發(fā)射電子槍,自動(dòng)球差校正器,可一鍵操作實(shí)現(xiàn)自動(dòng)球差校正,haadf-stem分辨率可以達(dá)到0.78埃;可配置eds雙探頭,固體角最大可達(dá)2.0sr;具備tem、stem,sem和電子衍射等多種圖像觀測模式;鏡筒和樣品臺(tái)經(jīng)過了重新設(shè)計(jì),顯著提升了儀器的性能和穩(wěn)定性......hf5000將是材料學(xué)、生命科學(xué)、半導(dǎo)體制造、石油煤炭等研究領(lǐng)域的可靠助手。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立120kV透射電鏡HT7800
日立新一代全數(shù)字化120kv透射電子顯微鏡ht7800,屬于日立瑠璃系列產(chǎn)品ruli tem,操作的一體化和自動(dòng)化程度都有明顯提高。ht7800系列產(chǎn)品有兩個(gè)型號(hào)ht7800和ht7830。
更新時(shí)間:2024-10-25
新型臺(tái)式掃描電鏡TM4000
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報(bào)告等一系列操作過程,大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報(bào)告生成功能,觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報(bào)告。此外,選配項(xiàng)還可實(shí)現(xiàn)更多功能。可在樣品倉內(nèi)加裝光學(xué)相機(jī)來拍攝照片,以往通過經(jīng)驗(yàn)尋找目標(biāo)位置*1,現(xiàn)在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時(shí),由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達(dá)臺(tái)*2,原來需手動(dòng)調(diào)整的操作,現(xiàn)在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立熱場發(fā)射掃描電鏡SU7000
此次推出的su7000采用全新設(shè)計(jì)的探測器,使得對二次電子信號(hào)、背散射電子信號(hào)的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據(jù)不同的觀察信號(hào)來調(diào)整樣品與透鏡之間的距離(工作距離/以下簡稱wd),以獲得最佳的觀察與分析條件,而su7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng),可在同樣的wd的條件下更高效地接收各種信號(hào),縮短了樣品觀察和分析的時(shí)間,提高了測試效率。 而且,su7000還配置了可同時(shí)6通道顯示界面(前代機(jī)型只能同時(shí)顯示4通道),進(jìn)一步升級(jí)電鏡控制系統(tǒng),大幅提高了信號(hào)獲取速度,由此實(shí)現(xiàn)了樣品的高效率觀察。它還標(biāo)配超大樣品倉,增設(shè)了附件接口,可適用于各種樣品的觀察與分析
更新時(shí)間:2024-10-25
日立中型掃描電鏡SU3800
 可搭載的最 大樣品尺寸:“su3800” 標(biāo)配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉,可應(yīng)對最 大高度為80mm、重量為2kg的樣品。 “su3900”作為日立高新技術(shù)的大型掃描電鏡,標(biāo)配可搭載最 大直徑300mm樣品的樣品倉,可應(yīng)對最 大高度為130mm、重量為5kg(比前代機(jī)型提高2.5倍*2)的樣品
更新時(shí)間:2024-10-25
日立大型掃描電鏡SU3900
在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域里,從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分,sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴(kuò)大,但對于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大/超重樣品,由于電鏡樣品臺(tái)能對應(yīng)的樣品尺寸和重量受到限制,所以觀察時(shí)需要進(jìn)行切割等加工。因此,對超大樣品不施以加工處理,便可直接觀察表面微細(xì)形貌和進(jìn)行各種分析則成為重要的課題。
更新時(shí)間:2024-10-25
ZEISS EVO18鎢燈絲掃描電鏡
zeiss商業(yè)化電鏡的歷史和經(jīng)驗(yàn)已超過60年,其技術(shù)先進(jìn)、性能卓越,在失效分析以及各種分析研究中具有廣泛的應(yīng)用。zeiss不斷追求、推出新的技術(shù)和新的產(chǎn)品,使其成為不僅可拍攝高分辨率圖像,還可以完成各種各樣的分析研究,更加體現(xiàn)zeiss電子顯微鏡高價(jià)值 和高利用性。
更新時(shí)間:2024-10-09
ZEISS ΣIGMA熱場發(fā)射掃描電鏡
zeiss σigma 電鏡為肖特基(schottky)熱場發(fā)射掃描電鏡。目前歐美地區(qū)比較推崇熱場發(fā)射電鏡,而日本較熱衷于冷場發(fā)射電鏡。該場發(fā)射掃描電鏡主要有如下特點(diǎn):
更新時(shí)間:2024-10-09
臺(tái)式掃描電鏡@實(shí)驗(yàn)室動(dòng)態(tài)2024
em科特(emcrafts)cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡,區(qū)別于落地式掃描電鏡的笨重機(jī)身,cube-ⅱ smart占地面積小機(jī)身緊湊,僅需放在平穩(wěn)的桌面上即可操作測量,無需特殊的安裝環(huán)境。用戶還可遵照客戶服務(wù)指南來任意移動(dòng)自己的臺(tái)式sem設(shè)備。
更新時(shí)間:2024-08-21
鎢燈絲掃描電鏡的產(chǎn)品參數(shù)介紹#技術(shù)新聞2024
veritas系列掃描電鏡擁有大樣品倉室,內(nèi)含5軸多功能電動(dòng)樣品臺(tái),可輕松測量大尺寸的樣品。并且veritas系列的樣品倉可同時(shí)安裝了多個(gè)樣本,減少樣品來回放置時(shí)因抽真空所使用的時(shí)間,從而達(dá)到快速分析測樣的目的,有.效地提高檢測速度。
更新時(shí)間:2024-08-21
小型掃描電鏡#2024已更新(每日/實(shí)時(shí))產(chǎn)品
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性,擁有em科特(emcrafts)利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度(僅在3分鐘之內(nèi)),大大提升檢測效率。
更新時(shí)間:2024-08-21
微型掃描電鏡的產(chǎn)品研發(fā)#技術(shù)新聞2024
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性,擁有em科特(emcrafts)利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度(僅在3分鐘之內(nèi))。
更新時(shí)間:2024-08-21
電鏡能譜一體機(jī)研發(fā)新聞2024
em科特(emcrafts)cube-ⅱ plus電鏡能譜一體機(jī),是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。擁有集成能譜(eds)設(shè)備的同時(shí)確保高分辨成像功能的應(yīng)用,簡便化的操作使得cube-ⅱ plus可在任何微小區(qū)域,同時(shí)實(shí)現(xiàn)納米分析與元素分析。多種顯示模式為sem-eds材料表征需求的提供人性化的幫助。測量軟件豐富多樣,可滿足您日常檢驗(yàn)研究的所有需求。
更新時(shí)間:2024-08-21
微型掃描電鏡@實(shí)驗(yàn)室動(dòng)態(tài)2024
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性,擁有em科特(emcrafts)利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度(僅在3分鐘之內(nèi))。
更新時(shí)間:2024-08-21
小型掃描電鏡#2024已更新
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性,擁有em科特(emcrafts)利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度(僅在3分鐘之內(nèi)),大大提升檢測效率。
更新時(shí)間:2024-08-21
鎢燈絲掃描電鏡-應(yīng)用與分析2024
em科特(emcrafts)cube金屬夾雜物系列掃描電鏡,可根據(jù)不同的檢測需求,靈活定制自動(dòng)分析流程,保證高通量快速運(yùn)行。同時(shí)可將您所需要的樣品信息,如顆粒尺寸、形狀、長寬比等同時(shí)顯示在界面。即使是初學(xué)者也可以方便快速地獲得整個(gè)樣品中幾千甚至幾萬顆粒的信息。
更新時(shí)間:2024-08-21
桌面掃描電鏡2024產(chǎn)品動(dòng)態(tài)已更新《新品/推薦》
em科特(emcrafts)cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區(qū)別于傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身,cube系列占地面積小,便攜性能好,無需特殊安裝環(huán)境,用戶可遵照客戶服務(wù)指南任意移動(dòng)sem設(shè)備,節(jié)約空間成本。
更新時(shí)間:2024-08-21
CUBE金屬夾雜物掃描電鏡2024@科研單位采購
em科特(emcrafts)cube金屬夾雜物系列掃描電鏡,可根據(jù)不同的檢測需求,靈活定制自動(dòng)分析流程,保證高通量快速運(yùn)行。同時(shí)可將您所需要的樣品信息,如顆粒尺寸、形狀、長寬比等同時(shí)顯示在界面。即使是初學(xué)者也可以方便快速地獲得整個(gè)樣品中幾千甚至幾萬顆粒的信息。
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臺(tái)式掃描電鏡的2024產(chǎn)品研發(fā)#技術(shù)新聞
em科特(emcrafts)cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡,區(qū)別于落地式掃描電鏡的笨重機(jī)身,cube-ⅱ smart占地面積小機(jī)身緊湊,僅需放在平穩(wěn)的桌面上即可操作測量,無需特殊的安裝環(huán)境。用戶還可遵照客戶服務(wù)指南來任意移動(dòng)自己的臺(tái)式sem設(shè)備。
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CUBE II臺(tái)式掃描電鏡
cube臺(tái)式掃描電鏡,適用于科研院所和高校的研究小組或企業(yè)研發(fā)中心,可對各種材料和器件表面微結(jié)構(gòu)或組織形態(tài)進(jìn)行精細(xì)觀測,接配簡易eds可快速鑒定微區(qū)化學(xué)成分。電子光學(xué)系統(tǒng):業(yè)配置;l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三電磁透鏡,圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺(tái):大行程馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái),大
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最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑
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