場發射掃描電鏡產品及廠家
德國zeiss場發射電子顯微鏡sigma 300 ，專利gemini鏡筒，超高的束流穩定性， 卓越的低電壓性能，in lens 探測器，磁性材料高分辨觀察。
更新時間:2024-12-24
jem-3200fs場發射電子顯微鏡配備了高加速電壓為300kv的場發射電子槍（feg）和鏡筒內置式ω型能量過濾器，能為廣泛的研究域提供各種全新的解決方案。
更新時間:2024-12-24
jem-f200 場發射透射電子顯微鏡，以節能環保、減排低碳為理念開發的jem-f200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
更新時間:2024-12-24
sigma是一款具有 gemini 鏡筒設計，用于成像及分析應用的高性能熱場發射掃描電鏡。gemini 鏡筒的特點是高亮度肖特基場發射電子源、電子束加速器和 in-lens 二次電子探測器。在獲得高成像質量的基礎上還具有良好的易用性。
更新時間:2024-12-17
特點：1. 優秀的低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達1.3nm2. 日立專利的exb設計，不需噴鍍，可以直接觀測不導電樣品3. upper探頭可選擇接受二次電子像或背散射電子像4. 可以根據樣品類型和觀測要求選擇打開或關閉減速功能5. 標配有冷指、電子槍內置加熱器，物鏡光闌具有自清潔功能6. 儀器的烘烤維護及烘烤后的透鏡機械對中均可由用戶自行完成
更新時間:2024-12-13
臺式掃描電鏡 2013年5月7日，日立高新技術公司推出臺式掃描電鏡tm3030。 日立高新生產和銷售的電子顯微鏡廣泛用于各行業的研究和開發、質量管理等，包括納米技術和生物技術領域。臺式顯微鏡目前在全世界范圍內廣泛使用，主要應用領域包括私營企業、政府機關、科學博物館、以及教育機構如大學、學院、小學和初中學校。臺式
更新時間:2024-12-13
超大樣品臺（標配，僅適用于 phenom xl）phenom xl 電鏡腔室由原來的 32 mm 擴容為 100 mm x 100 mm，一次可容納至多 36 個 1/2 英寸樣品臺樣品最大尺寸：長 100 mm；寬 100 mm；高度 65 mm用這個樣品臺可以對各種各樣的樣品成像
更新時間:2024-12-10
設計用于冶金/金相樣品的觀察（鑲嵌在樹脂里）最大尺寸：直徑32mm；高度30mm
更新時間:2024-12-10
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結構。基于高亮度 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統，phenom pure 的分辨率輕松達到 10 nm，同時具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點。
更新時間:2024-12-10
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結構。基于高亮度 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統，phenom pure 的分辨率輕松達到 10 nm，同時具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點。
更新時間:2024-12-10
秉承飛納臺式掃描電鏡系列全自動操作、快速成像、不噴金觀看不導電樣品、完全防震、性能穩定的特點，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發射電子源臺式掃描電鏡 phenom pharos g2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發射電子源，使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像，分辨率優于 1.5nm
更新時間:2024-12-10
日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發售的肖特基式場發射掃描電子顯微鏡“su5000“，搭載了全新的用戶界面和“em wizard“，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時間:2024-12-06
日立中型掃描電鏡su38001) 支持超大/超重樣品測試 可搭載的 大樣品尺寸：“su3800” 標配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉，可應對 大高度為80mm、重量為2k
更新時間:2024-12-02
日立臺式掃描電鏡tm4000 ii / tm4000plus i臺式顯微鏡作為掃描電子顯微鏡（sem）在生物技術和材料等領域得到廣泛應用。該系列由日立高新技術于2005年4月開始銷售，可放在辦公桌上，
更新時間:2024-12-02
日立大型掃描電鏡su3900在以納米技術和生物技術為主的產業領域里，從物質的微細結構到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。sem用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業材料和汽車零配件等超大
更新時間:2024-12-02
日立肖特基場發射掃描電鏡此外，為一次性獲取大量信息，單次掃描像素擴展到了40,960 x 30,720（選配），是之型號的64倍。利用這一功能，可憑借一張數據圖像有效評估多處局部的細微結構。在fe-sem的觀察和分析中，需要根據測量樣品與需求調整觀察條件。調整所需時間的長短取決于用戶的操作熟練度，這是造成數據質量與效率差異的因素之一。此系列產品標配自動調整功能，可避免人為操作導
更新時間:2024-12-02
日立大型掃描電鏡近年來為了實現各種材料的高功能化和高性能化，需要觀察并優化材料的微細結構。目sem的應用除了以往的研究開發以外，已擴展到質量和生產管理方面，使用頻率日益高漲。同時市場也對儀器的操作性能提出了更高的要求，以進一步減輕操作人員的負擔 此次發
更新時間:2024-12-02
可根據不同樣品設置不同的觀察條件 樣品倉內的真空度及加速電壓有多種選擇，可根據需求自行設置。簡化尋找視野、圖像拍攝、圖像確認等一系列操作過程（選配） 在樣品倉上可選配光學相機，樣品開始觀察先拍攝樣品的整體照片，雙擊照片上的樣品，即可實現照片導航功能。
更新時間:2024-12-02
日立高新熱場式場發射掃描電鏡這次新開發的"su5000"對用戶沒有任何操作技巧上的要求，通過”em wizard“只要選擇好觀察目的就可以得到好照片。"em wizard"以人為本的設計理念使電鏡的操作性大幅上升，對于用戶來說，再也不用去討論該用什么條件進行觀察，只要按照觀察目的選擇”表面細節觀察“或是”成分分布“等就可以自動將適合的觀察條件設置好。除此之外，使用經驗豐富的操作人員也可以像往常一樣
更新時間:2024-12-02
日立高新熱場式場發射掃描電鏡su5000--搭載用戶界面，向所有用戶提供高畫質圖像-- 日立高新技術公司（以下簡稱：日
更新時間:2024-12-02
日立肖特基場發射掃描電鏡su8700fe-sem獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構，因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料等領
更新時間:2024-12-02
teracube thz近場顯微鏡利用高性能太赫茲探針，結合時域泵浦探測系統成為thz近場系統可以進行高分辨率的成像研究。teracube scientific和新的teracube scientific m2是全自動太赫茲近場掃描系統，可以在光學實驗室中運行。
更新時間:2024-10-28
"regulus系列"是日立高新技術的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續機型開發的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級 "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個機型，均實現了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2024-10-25
日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發售的肖特基式場發射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶界面和"em wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時間:2024-10-25
日立高新場發射掃描電子顯微鏡su8200系列（hitachi uhr fe-sem su8200 series，su8220，su8230，su8240）采用日立高新技術公司全新開發的冷場電子槍，實現超高分辨率下觀察的同時，穩定的束流亦可滿足長時間下的分析需求。在日立高新的新型冷場發射掃描電鏡(fe-sem)su8200系列中，有su8220、su8230、su8240三款機型，于5月20日開始
更新時間:2024-10-25
日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需最大300萬倍穩定觀察的先進半導體器件，高分辨成像所設計。新的電子槍和電子光學設計提高了低加速電壓性能。
更新時間:2024-10-25
日立高新分析超高分辨率肖特基熱場發射掃描電子顯微鏡su-70 是一種新概念掃描電子顯微鏡。日立高新分析超高分辨率肖特基熱場發射掃描電子顯微鏡su-70采用了日立經過實地驗證的 “semi-in-lens”超高分辨率技術以及肖特基熱場發射電子槍技術。
更新時間:2024-10-25
日立高新超高分辨場發射掃描電子顯微鏡su8000系列（hitachi uhr fe-sem su8000 series，su8010，su8020，su8030，su8040）具有共同的卓越功能，諸如超高分辨率技術（1.3nm/1.0kv），信號探測系統范圍廣，可操作性強，便于用戶操作等。
更新時間:2024-10-25
--搭載全新用戶界面，向所有用戶提供高畫質圖像-- 日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發售的肖特基式場發射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶界面和"em wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片
更新時間:2024-10-25
、微電腦液晶顯示屏，可在線實時監測ro水和up水水質2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡單，使用壽命長3、監控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂，保證產水水質進水要求
更新時間:2024-10-25
日立發布的200kv球差校正透射電鏡hf5000，具有高穩定冷場發射電子槍，自動球差校正器，可一鍵操作實現自動球差校正，haadf-stem分辨率可以達到0.78埃；可配置eds雙探頭，固體角最大可達2.0sr；具備tem、stem，sem和電子衍射等多種圖像觀測模式；鏡筒和樣品臺經過了重新設計，顯著提升了儀器的性能和穩定性......hf5000將是材料學、生命科學、半導體制造、石油煤炭等研究領域的可靠助手。
更新時間:2024-10-25
日立新一代全數字化120kv透射電子顯微鏡ht7800，屬于日立瑠璃系列產品ruli tem，操作的一體化和自動化程度都有明顯提高。ht7800系列產品有兩個型號ht7800和ht7830。
更新時間:2024-10-25
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標配了報告生成功能，觀察結束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報告。此外，選配項還可實現更多功能。可在樣品倉內加裝光學相機來拍攝照片，以往通過經驗尋找目標位置*1，現在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達臺*2，原來需手動調整的操作，現在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時間:2024-10-25
此次推出的su7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據不同的觀察信號來調整樣品與透鏡之間的距離（工作距離／以下簡稱wd），以獲得最佳的觀察與分析條件，而su7000通過新研發的樣品倉以及檢測器系統，可在同樣的wd的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。 而且，su7000還配置了可同時6通道顯示界面（前代機型只能同時顯示4通道），進一步升級電鏡控制系統，大幅提高了信號獲取速度，由此實現了樣品的高效率觀察。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析
更新時間:2024-10-25
可搭載的最 大樣品尺寸：“su3800” 標配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉，可應對最 大高度為80mm、重量為2kg的樣品。 “su3900”作為日立高新技術的大型掃描電鏡，標配可搭載最 大直徑300mm樣品的樣品倉，可應對最 大高度為130mm、重量為5kg(比前代機型提高2.5倍*2)的樣品
更新時間:2024-10-25
在以納米技術和生物技術為主的產業領域里，從物質的微細結構到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。sem用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺能對應的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時需要進行切割等加工。因此，對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。
更新時間:2024-10-25
zeiss商業化電鏡的歷史和經驗已超過60年，其技術先進、性能卓越，在失效分析以及各種分析研究中具有廣泛的應用。zeiss不斷追求、推出新的技術和新的產品，使其成為不僅可拍攝高分辨率圖像，還可以完成各種各樣的分析研究，更加體現zeiss電子顯微鏡高價值 和高利用性。
更新時間:2024-10-09
zeiss σigma 電鏡為肖特基（schottky）熱場發射掃描電鏡。目前歐美地區比較推崇熱場發射電鏡，而日本較熱衷于冷場發射電鏡。該場發射掃描電鏡主要有如下特點：
更新時間:2024-10-09
em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區別于落地式掃描電鏡的笨重機身，cube-ⅱ smart占地面積小機身緊湊，僅需放在平穩的桌面上即可操作測量，無需特殊的安裝環境。用戶還可遵照客戶服務指南來任意移動自己的臺式sem設備。
更新時間:2024-08-21
veritas系列掃描電鏡擁有大樣品倉室，內含5軸多功能電動樣品臺，可輕松測量大尺寸的樣品。并且veritas系列的樣品倉可同時安裝了多個樣本，減少樣品來回放置時因抽真空所使用的時間，從而達到快速分析測樣的目的，有.效地提高檢測速度。
更新時間:2024-08-21
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內），大大提升檢測效率。
更新時間:2024-08-21
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內）。
更新時間:2024-08-21
em科特（emcrafts）cube-ⅱ plus電鏡能譜一體機，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。擁有集成能譜（eds）設備的同時確保高分辨成像功能的應用，簡便化的操作使得cube-ⅱ plus可在任何微小區域，同時實現納米分析與元素分析。多種顯示模式為sem-eds材料表征需求的提供人性化的幫助。測量軟件豐富多樣，可滿足您日常檢驗研究的所有需求。
更新時間:2024-08-21
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內）。
更新時間:2024-08-21
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內），大大提升檢測效率。
更新時間:2024-08-21
em科特（emcrafts）cube金屬夾雜物系列掃描電鏡，可根據不同的檢測需求，靈活定制自動分析流程，保證高通量快速運行。同時可將您所需要的樣品信息，如顆粒尺寸、形狀、長寬比等同時顯示在界面。即使是初學者也可以方便快速地獲得整個樣品中幾千甚至幾萬顆粒的信息。
更新時間:2024-08-21
em科特（emcrafts）cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區別于傳統掃描電鏡的笨重機身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環境，用戶可遵照客戶服務指南任意移動sem設備，節約空間成本。
更新時間:2024-08-21
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