技 術 參 數 |
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PRO CMM光學跟蹤儀
PRO CMM系統是使用現代的高速攝影測量概念的實時光學跟蹤儀。PRO CMM系統一次安裝測量范圍可達6米,并以微米級別的精度在整個量程內進行測量。
DPR動態參考系統 自動補償工件和追蹤系統的任何運動。持續監控附在工件上的目標,生成一個當地參考系統,確保相對于工件的探針坐標。現在您可以在整個檢測過程中自動調校工件以消除測量漂移和誤差。可以在不穩定的環境中操作可以自動補償振動誤差可以克服由于熱效應引起的校準變化可以補償移動懸掛載荷可以不固定測量可以對工件或追蹤系統重定位
MSP多面測頭 MSP多面測頭在測量時可以不管測頭的方向性。當附加一個預校準的雷尼紹測針時,您能容易的在任何地方在測量機的測量范圍內測量可見或隱藏的特征。MSP也可以連接激光掃描頭或者安裝在剛體上做6自由度(6DOF)跟蹤測量。PRO CMM 系列產品包含的高級測量解決方案可確保在車間的任何地方進行精確的測量。
精度與測量范圍
| Model 1000 | Model 2000 | Model 3500 |
測量范圍 | 1.5m to 4.5m (10m3) | 1.5m to 6m (20m3) | 1.5m to 7.5m (35m3) |
單點精度 | 最高 20 µm | 最高20 µm | 最高20 µm |
體積精度* | 80 µm + 2.5L/100 | 95 µm + 2.5L/100 | 100 µm + 2.5L/100 |
實測精度 | 最高35 µm | 最高35 µm | 最高35 µm |
光學跟蹤儀 | |
外形尺寸 | 1157mm L x 230mm W x 175mm H |
重量 | 24kg |
電源輸入 | 100-240 VAC, 50/60 Hz, 1.0A |
操作溫度 | 10°C to 35°C |
MSP多面測頭 | |
外形尺寸 | 185mm L x 185mm W x 105mm H |
重量 | 200g |
跟蹤目標 | 25 |
軟件
PRO CMM光學跟蹤儀整合了工業上處于領導地位的第三方檢測與掃描軟件。包括:• Delcam: PowerINSPECTwww.delcam.com• Geomagic: Control, Studio, Wrapwww.geomagic.com• Hexagon: Quindoswww.hexagonmetrology.com• InnovMetric: Polyworkswww.innovmetric.com• Metrologic Group: Metrolog X4www.metrologic.fr• MobiGagewww.mobigage.com• New River Kinematics: Spatial Analyzerwww.kinematics.com• Rapid Form: Geomagic Design X, Geomagic Verifywww.rapidform.com• Verisurf: Verisurf X6www.verisurf.com• Zeiss: Calyspo, HOLOS NT
VMT系列光學三坐標影象測量儀(三坐標復合型)
一款高精密度、高度的手/自動測量儀,結合傳統光學與數碼科學技術,隨機配備功能完備的幾何量測軟件TPM,具有操作簡便,速度快,功能齊全,使用范圍廣,經濟性強的特點。影像可直接在屏幕上顯示觀察,并可直接量測;提供影像自動尋邊工具快速尋邊;具有超強去毛邊功能,可對不規則形狀的物件進行量測,消除人為誤差。是工具顯微鏡和投影儀的升級換代產品
產品特點 1. 手搖式操作,可切換快速移動 2. 花崗石底座和立柱 3. 底光和表面光手動可調 4. 量測精度:(3+L/200)μm 5. 英國Renishaw接觸式探針 6. 強大易用的OVM+TPM手動版量測軟件 適合行業二維抄數、繪圖、工程開發、各種精密電子、模具、五金塑膠、PCB板、導電橡膠、螺絲、沖壓件、手表、手機等
性能特點:1.Renishaw接觸式探針2.前置Z軸手輪,方便操作3.Step Zoom技術,鏡頭倍率變換不用重新校正4.OVM Pro影像量測軟件和TPM三坐標量測軟件5.IUI功能,以盡量少的步驟完成量測操作6.半自動學習,批量檢測7.SPC功能8.對于圓槽溝,柱,球,錐,盲孔,高度等量測精度高9.測量數據可導入EXCEL,WORD或CAD軟件
具體型號 | VMT250 VMT300 VMT400 |
(X/Y/Z軸)量測行程(mm) | 250*150*200 300*200*200 400*300*200 |
全機尺寸(mm) | 800*500*1650 980*620*1650 |
機臺底座和立柱材料 | 高精度花崗石 |
光源材質 | LED冷光源 |
X,Y軸量測精度 | (3+L/200)um |
放大倍率 | 光學放大率:0.7--4.5X,影像放大率:28--180X |
光學尺解析度 | 1 um |
重復性 | 2 um |
操作方式 | 手動 |
顯示器 | 液晶 |
電源供給 | 110/220V |
合適溫度,濕度 | 溫度:19°--24°,濕度:45%--75% |
保修期 | 1年 |
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重量:5.5 千克 · 尺寸:1089 x 174 x 119 毫米 · 單點性能 *:45 微米 · 體積性能 *:75 微米 · 測量速度:30 點/秒 · 操作溫度范圍:15-40 °C · 操作濕度范圍(非冷凝):10-90% · 通用電源:100-240 VAC/50-60Hz · 認證:EN 301 489-1、EN 301 489-3、EN 300 220-1 * 測試方法 依照 ASME B89.4.22 標準
詳情請參考:http://www.fanoric.com/product_view.asp?id=264