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AI3200原子熒光光譜儀

特點：1、特有的氫化物發生分析功能。2、對元素的氫化物形式如汞、鎘、鋅的檢測可達 3、到ppt水平。 4、雙通道，可同時對兩個元素進行測試。 5、自動定位的5燈轉臺，每一個燈都具有獨立的電源供給。6、線性動態范圍，3個數量級。 7、即使樣品成份再復雜，也無需經過額外的預處理，分析成本低，性高。 8、配合AI 4000使用，可成為全自動操作系統。 9、每小時可以做150個樣品。

EDX-GP能量色散型X射線熒光光譜儀

EDX-GP自動判定主要成分，選擇校準曲線并測定，無需操作者判斷。技術參數 1，測定范圍 13Al－92U 2，樣品室尺寸最大W370mm×D321mm×H155mm 3，1次濾光片 5種+OPEN自動交換 4，軟件篩選分析簡單操作軟件定性分析測定?解析軟件定量分析校準曲線法 FP法、薄膜FP法、BG－FP法主要特點深入淺出 ●利用［篩選分析］畫面、操作簡單方便

1、EDX-GP是島津針對RoHS/ELV/無鹵設計開發的專用機型；

2、結合EDX以往機型的特點加以完善，測試分辨率、度，重復性達到了業界水平，并縮短了測試時間，大大提高了測試效率；

3、結合多年實際經驗，島津對操作軟件上做了很大的改良，新操作軟件實現了人性化，一鍵式操作，并配備自動校準功能和時間、聲音提示，使測試工作變得十分輕松、易學，減少了人為判定帶來的失誤；

4、采用了超大的樣品室，370×320×155MM的空間適應了更多大型樣品的測試需要

技術支持體系：

1.日本京都分析中心、以及中國北京島津分析中心針對RoHS指令，不斷開發新的分析方法，支持用戶滿足綠色產品檢驗需求。

2.三天專業工程師免費上門安裝培訓，一個月后的免費二次培訓；確保正確操作儀器，測試精度。

3.在用戶集中地區，平均每月舉辦一次島津技術交流研討會，介紹RoHS資訊及測試方

該公司產品分類：濕敏電阻島津儀器

SPECTRO PHOENIX II 能量色散X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀－SPECTRO PHOENIX II

SPECTRO PHOENIX II是德國斯派克分析儀器公司推出的臺式能量色散X射線熒光光譜儀，儀器結構緊湊，操作簡便、經濟實用，適合對固體、液體、糊狀、漿狀或粉末狀樣品的元素成分進行定量和定性分析，測量范圍從Mg - U。

它廣泛應用于生產過程、質

量控制現場以及實驗室。內置式PC采用Windows操作系統和簡便的交互式觸屏顯示，即使是未經過專門培訓的人員還是經驗豐富的操作者均可方便地使用。

該公司產品分類：拉力試驗機 EVA交聯度測試儀

AI3200原子熒光光譜儀

Aurora因其AI 3200 原子熒光光譜儀獨特的設計，極易為廣大實驗工作者所接受。該儀器的靈敏度高，能夠達到理想的檢測極限，有著其他分析儀器所不可比擬的優勢：1、 特有的氫化物發生分析功能。2、 對元素的氫化物形式如汞、鎘、鋅的檢測可達到ppt水平。3、 雙通道，可同時對兩個元素進行測試。4、 自動定位的5燈轉臺，每一個燈都具有獨立的電源供給。5、 線性動態范圍，3個數量級。6、 即使樣品成份再復雜，也無需經過額外的預處理，分析成本低，性高。7、 配合AI 4000使用，可成為全自動操作系統。8、 每小時可以做150個樣品。

AI3200原子熒光光譜儀特點

·檢測限可達到ppt級(氫化物形式)

·線性動態范圍為三個數量級

·雙通道同時測量

·計算機控制、快速轉換的五燈轉盤

·集成氫化物/汞蒸氣發生器,氣液分離器及蠕動泵

·小底盤，65 x 55 cm

· 一體化儀器

元素	As Se Pb Bi Sb Te Sn	Hg, Cd	Zn	Ge
檢測限（ µg/l）	<0.02	< 0.001	< 2.0	<0.1
信噪比RSD	< 1.0%

蘇州綠頓電子科技有限公司是深圳天瑞儀器有限公司在華東地區的公公司，總部在美國。本公司主要生產和銷售X熒光光譜儀EDX3000，它是ROHS指令的精密檢測儀器，精確度可達1PPM。 X熒光光譜儀ROHS指令檢測主要技術指標：一．基本性能指標1.元素分析范圍從鉀(K)到鈾(U)；2.元素含量分析范圍為1 PPm到99.99%；3.測量時間:60-200秒；4.元素分析檢出限達1PPm；5.多次測量重復性可達0.1％；6.工作穩定性為0.1％；7.能量分辨率為165EV；8.溫度適應范圍為15℃至26℃；9.電源:交流220V±5V；（建議配置交流凈化穩壓電源。）10.相互獨立的基體效應校正模型；11.多變量非線性回收程序；12.任意多個可選擇的分析和識別模型；13.一次可同時分析24個元素。二．鍍層厚度分析指標1.無損、精確、快速測量各種電鍍層的厚度；2.膜厚分析精度:0.01um—0.05um；3.極小的測定面積,可達0.1mm＊0.1mm；4.中間鍍膜及素材的成份對測量值不產生影響；5.同時且互不干擾的測量上層及中間鍍膜；6.電鍍層可以是鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍錫、鍍鋅等；7.可測量二元合金、三元合金等的鍍膜厚及成份；8.可分析10層以上的鍍層；9.簡捷、明了的測厚分析軟件界面；10.可分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。三．歐盟ROHS指令分析指標1.無損、精確、快速測量各種塑料、電子元器件、電器、金屬、溶液等物件里面的有毒有害元素；2.對鎘（Cd）、鉛（Pb）、鉻（Cr）、溴（Br）、汞（Hg）的檢出限達1PPm；3.簡捷、明了、便利的軟件操作界面。四．元素含量分析指標1.無損、精確、快速測量各種樣品中各元素的含量；2.一次可同時分析樣品中的24個元素；3.應用在化學工業、鋼鐵、水泥、陶瓷、電子、環保、食品、造紙、石油、煤炭、有色金屬等領域的研發和品質管理(生產控制)；4.樣品的狀態可以是固體、液體、粉體。

XGT-1000WRX射線熒光光譜儀

分析原理：能量色散X射線熒光分析法

分析元素：Si-U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）

檢出下限：Cd/Pb/Hg/Br:2ppm,Cr:5ppm

檢測樣品：固體、粉體、液體

樣品室：460x360x150mm

X射線管：Rh靶材，管電壓最大50kv，管電流最大1mA

X射線照射徑：直徑1.2mm/0.1mm

檢測器：高純硅

液氮消耗量：每日1升以下（不開機時不用）

光學圖象觀察：50倍

SPECTRO.MIDEXX熒光光譜儀

具體電話聯系

SPECTRO MIDEX能量色散小焦點X射線熒光光譜儀 RoHS檢測專用

PECTRO MIDEX™　采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統，集準直、聚焦、樣品激發于一體，是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX™　適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調節的樣品臺。通過20倍變焦攝像機可精確地確定測量位置。儀器配有計算機和專業化的軟件，使操作極為簡便。測量點直徑為0.7mm,樣品的總測量時間不超過100秒。在測定稀有金屬合金中的金含量時,樣品的測量精度為0.15%。SPECTRO MIDEX™　也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內可完成從鋁到鈾的所有數十種元素的分析。 SPECTRO MIDEX　不僅僅適用于珠寶行業、貴金屬檢驗機構，海關商檢、造幣工業等，還可完成其它分析任務如：非破壞性檢查，貴金屬分選，電子線路及電氣元件的分析等。

USB4000-FL熒光光譜儀

USB4000-FL熒光光譜儀：不包含激發源

不含激發光源，可以靈活地從多種小型的、低價位的、模塊化的激發源中進行選擇，比如說海洋光學的LED光源。激發源產生脈沖或連續信號，非常便捷地傳輸到光譜儀、光纖和采樣附件上。

USB4000-FL熒光光譜儀配有激發源

USB4000-FL-450&USB4000-FL-395光譜儀的配置與USB4000-FL相同，不過它們還附帶了光源。USB4000-FL-450使用470nm LED光源，USB4000-FL-395使用395nm LED光源。當您要為熒光光譜儀配備探頭時，我們建議USB4000-FL-450可使用FOXY和HIOXY探頭，USB4000-FL-395可以使用FOSPOR探頭。光譜儀可以為LED供電，實現同步功能和I2C通訊功能。而且，光源還連接有溫度傳感器，帶有板載內存可以存儲溫度和氧含量校準系數。 USB4000-FL熒光光譜儀規格：

USB4000-FL熒光光譜儀規格 USB4000-FL USB4000-FL450 USB4000-FL395 USB4000-FL熒光光譜儀物理特性尺寸： 89.1 mm x 63.3 mm x 34.4 mm 89.1 mm x 120.3 mm x 34.4 mm 89.1 mm x 120.3 mm x 34.4 mm USB4000-FL熒光光譜儀重量： 190克 310克 310克探測器探測器東芝TCD1304AP 線性 CCD 陣列東芝TCD1304AP 線性 CCD 陣列東芝TCD1304AP 線性 CCD 陣列光學平臺設計： f/4, 非對稱交叉Czerny-Turner光路 f/4, 非對稱交叉Czerny-Turner光路 f/4, 非對稱交叉Czerny-Turner光路焦距：輸入42mm，輸出68mm 輸入42mm，輸出68mm 輸入42mm，輸出68mm 入光孔徑： 200 ?m 狹縫 200 ?m 狹縫 200 ?m 狹縫光柵 #3光柵，600線密度，360-1100nm帶寬，閃耀波長500nm #3光柵，600線密度，360-1100nm帶寬，閃耀波長500nm #3光柵，600線密度，360-1100nm帶寬，閃耀波長500nm 光纖連接器 SMA905配0.22數值孔徑光纖 SMA905配0.22數值孔徑光纖 SMA905配0.22數值孔徑光纖 USB4000-FL熒光光譜儀光譜特性波長范圍： 360~1100 360~1100 360~1100 光譜分辨率： ~10.0 nm FWHM ~10.0 nm FWHM ~10.0 nm FWHM 信噪比： 300:1 （全信號） 300:1 （全信號） 300:1 （全信號） A/D 16位 16位 16位暗噪聲 50RMS counts 50RMS counts 50RMS counts 雜散光： <0.05%在600nm處;0.10%在435 nm處 <0.05%在600nm處;0.10%在435 nm處 <0.05%在600nm處;0.10%在435 nm處校正線性度 >99.8% >99.8% >99.8% 電子特性功耗： 250 mA @ 5 VDC 250 mA @ 5 VDC 250 mA @ 5 VDC 數據傳輸速度：全掃描到內存，USB2.0為5ms, USB1.1為18ms, 串口300ms. 全掃描到內存，USB2.0為5ms, USB1.1為18ms, 串口300ms. 全掃描到內存，USB2.0為5ms, USB1.1為18ms, 串口300ms. 輸入/輸出： 8個數字、可編程通用輸入輸出口 8個數字、可編程通用輸入輸出口 8個數字、可編程通用輸入輸出口計算機操作系統： USB口：Windows 98/Me/2000/XP, Mac OS X 和 Linux

串行端口：任意32位Windows 操作系統 USB口：Windows 98/Me/2000/XP, Mac OS X 和 Linux

串行端口：任意32位Windows 操作系統計算機接口： USB 2.0 @ 480 Mbps （USB1.1兼容）; RS-232 （2-wire） @ 115.2 K baud USB 2.0 @ 480 Mbps （USB1.1兼容）; RS-232 （2-wire） @ 115.2 K baud USB 2.0 @ 480 Mbps （USB1.1兼容）; RS-232 （2-wire） @ 115.2 K baud 接口： SPI （3-wire）; I2C 內部集成電路 SPI （3-wire）; I2C內部集成電路 SPI （3-wire）; I2C內部集成電路光源穩定性 n/a 預熱2分鐘后±1.0%的偏移預熱2分鐘后±1.0%的偏移 USB4000-FL熒光光譜儀波長范圍 n/a 460-490nm 380-410nm 能耗 n/a 60Ma@5VDC 60Ma@5VDC USB4000-FL熒光光譜儀輸出 n/a 60?W對于600?m的光纖 60?W對于600?m的光纖 -LEFT: windowtext 1pt solid; WIDTH: 106.5pt; PADDING-TOP: 0cm; BORDER-BOTTOM: windowtext 1pt solid; BACKGROUND-COLOR: transparent; vAlign=top width=142> A/D

16位

暗噪聲

50RMS counts

雜散光：

<0.05%在600nm處;0.10%在435 nm處

校正線性度

>99.8%

>99.8% USB4000-FL熒光光譜儀:

電子特性功耗： 250 mA @ 5 VDC 250 mA @ 5 VDC 250 mA @ 5 VDC 數據傳輸速度：全掃描到內存，USB2.0為5ms, USB1.1為18ms, 串口300ms. 全掃描到內存，USB2.0為5ms, USB1.1為18ms, 串口300ms. 全掃描到內存，USB2.0為5ms, USB1.1為18ms, 串口300ms. 輸入/輸出： 8個數字、可編程通用輸入輸出口 8個數字、可編程通用輸入輸出口 8個數字、可編程通用輸入輸出口計算機操作系統： USB口：Windows 98/Me/2000/XP, Mac OS X 和 Linux

串行端口：任意32位Windows 操作系統 USB口：Windows 98/Me/2000/XP, Mac OS X 和 Linux

串行端口：任意32位Windows 操作系統計算機接口： USB 2.0 @ 480 Mbps （USB1.1兼容）; RS-232 （2-wire） @ 115.2 K baud USB 2.0 @ 480 Mbps （USB1.1兼容）; RS-232 （2-wire） @ 115.2 K baud USB 2.0 @ 480 Mbps （USB1.1兼容）; RS-232 （2-wire） @ 115.2 K baud 接口： SPI （3-wire）; I2C 內部集成電路 SPI （3-wire）; I2C內部集成電路 SPI （3-wire）; I2C內部集成電路光源穩定性 n/a 預熱2分鐘后±1.0%的偏移預熱2分鐘后±1.0%的偏移波長范圍 n/a 460-490nm 380-410nm USB4000-FL熒光光譜儀能耗 n/a 60Ma@5VDC 60Ma@5VDC USB4000-FL熒光光譜儀輸出 n/a 60?W對于600?m的光纖 60?W對于600?m的光纖 -LEFT: windowtext 1pt solid; WIDTH: 106.5pt; PADDING-TOP: 0cm; BORDER-BOTTOM: windowtext 1pt solid; BACKGROUND-COLOR: transparent; vAlign=top width=142> A/D

16位

暗噪聲

50RMS counts

雜散光：

<0.05%在600nm處;0.10%在435 nm處

校正線性度

>99.8%

串行端口：任意32位Windows 操作系統 USB口：Windows 98/Me/2000/XP, Mac OS X 和 Linux

串行端口：任意32位Windows 操作系統計算機接口： USB 2.0 @ 480 Mbps （USB1.1兼容）; RS-232 （2-wire） @ 115.2 K baud USB 2.0 @ 480 Mbps （USB1.1兼容）; RS-232 （2-wire） @ 115.2 K baud USB 2.0 @ 480 Mbps （USB1.1兼容）; RS-232 （2-wire） @ 115.2 K baud 接口： SPI （3-wire）; I2C 內部集成電路 SPI （3-wire）; I2C內部集成電路 SPI （3-wire）; I2C內部集成電路光源穩定性 n/a 預熱2分鐘后±1.0%的偏移預熱2分鐘后±1.0%的偏移波長范圍 n/a 460-490nm 380-410nm 能耗 n/a 60Ma@5VDC 60Ma@5VDC 輸出 n/a 60?W對于600?m的光纖 60?W對于600?m的光纖

RoHS檢測儀、RoHS分析儀、光譜儀、x射線熒光光譜儀13202706931

我司所生產的EDX3000B型的X熒光光譜儀（XRF）是用于各種電子、電器、塑膠制品企業進行有關RoHS方面的快速篩選、自我監控的一類儀器，它能對2006年7月1日實施的歐盟RoHS環保指令中限定的六種元素（包括鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯、多溴聯苯醚共六種有害物質）進行檢測篩選。該儀器的主要功能是對工廠的自我監控，這樣就可以對原料采購——生產流程——成品進行檢測，全程監控產品，對公司和產品起到自我保障作用。

RoHS指令檢測主要技術指標:

1. 檢測儀器 Skyray EDX3000B 2. 樣品室尺寸：A型400-500-300mm; B型1000-1000-300mm 3. 工作電源：220V 4. 高壓：15-50KV 5. 管流：50-1000μA 6. 計數率：1300-8000Cps 7. ROHS指令有害元素儀檢出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br為1PPM 8. 測量時間為：60-300秒 9. 電致冷硅針半導體探測器 10. 加強金屬元素感度分析 11.無損樣品，前處理簡單12.能分析出塑料中含有的1PPm的鎘13.直觀的軟件操格界面14.簡便的儀器操作方式15.自動編制附帶合格與否判定結果的檢測報告16.全分析結果報告

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AI3200原子熒光光譜儀

EDX-GP能量色散型X射線熒光光譜儀

SPECTRO PHOENIX II 能量色散X射線熒光光譜儀

AI3200原子熒光光譜儀

DEX3000BROHS檢測儀器 X熒光光譜儀

XGT-1000WRX射線熒光光譜儀

SPECTRO.MIDEXX熒光光譜儀

SPECTRO MIDEX能量色散小焦點X射線熒光光譜儀 RoHS檢測專用

USB4000-FL熒光光譜儀

RoHS檢測儀、RoHS分析儀、光譜儀、x射線熒光光譜儀13202706931

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