型號:JX089661KDC-5元素分析儀 | 型號:JX089698高頻多元素全能分析儀N-HW3000A | 型號:JX125150CX-9800(L)CCD光譜直讀光譜金屬分析儀器 |
任意參數 | 頻率:50Hz |
電壓 | 220V |
型號 | KDC-5 |
任意參數 | 測量范圍:Ni:0.010~48.000% |
型號 | N-HW3000A |
任意參數 | 測量范圍:Ni:0.010~48.000% |
型號 | N-HW3000A |
環境標準HJ 780 -2015用土壤重金屬分析儀是款快速無損XRF熒光分析儀,產品操作簡單,測試速度快。
隨著工業化和城市化的飛速發展,土壤環境問題越來越受到重視,土壤重金屬污染,特別是工業區土壤金屬污染,已逐漸成為環境學界研究的熱點。土壤污染中重金屬主要指汞、鎘、鉛、鉻以及各類金屬砷等有生物毒性顯著的重金屬,也指具有定毒性的般重金屬如鋅、銅、鈷、鎳、錫等,目前引起人們關注的重金屬是汞、鎘、鉛等。重金屬對土壤的污染是短期不可逆過程,在土壤-植物系統中,重金屬污染通過食物鏈進入農產品,影響農產品質量安,危害人類健康,因此對土壤重金屬污染監測是非常必要的。
根據土資源部新的調查數據,耕種土地面積的10%以上已受重金屬污染,約有1.5億畝,污水灌溉污染耕地3250萬畝,固體廢棄物堆存占地和毀田200萬畝,其中多數集中在經濟較發達地區。中環境與發展際合作委員會公布,環保部在對我30萬公頃基本農田保護區土壤有害重金屬抽樣監測發現,有3.6萬公頃土壤重金屬超標,超標率達12.1%。
近年來,重金屬污染事故頻發,如陜西鳳翔兒童血鉛超標、山東臨沂砷污染事件、湖南瀏陽鎘污染事件、紫金礦業污染事件、廣西龍江鎘污染事件等。這些重金屬污染事件不但給社會帶來了重大的經濟損失也威脅著人們的健康生活,也引起家相關環保部門的高度重視,同時把重金屬污染防治,深化重金屬監測工作擺在了更加緊迫、更加重要的位置上。目前,由環保部牽頭制定的《土壤環境保護“十二五”規劃》已進入務院審批程序,該規劃預計將帶動產業總投資達數千億元。
與此同時,2015年12月14日環境保護部發布了土壤和沉積物環境標準HJ 780 -2015——《土壤和沉積物 無機元素的測量波長色散X射線熒光光譜法》。此標準2016年2月1日執行。此標準對25種無機元素和7中氧化物的質量分數范圍提出了要求。針對這標準,本公司推出款EDX 3200S PLUS熒光光譜儀,能夠快速、地分析土壤中金屬元素,K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Rb、Y、Ba、Sr、Br、Th、Pb、As和Zr元素的檢出限和定量限完滿足HJ 780-2015環境保護標準要求。
X射線熒光光譜法測試原理: X射線熒光光譜法是種現代儀器分析方法,通過X射線管產生入射X射線(次X射線),激發被測樣品;受激發的樣品中的每種元素會發出特征X射線(二次X射線)——這種特征X射線具有特定的能量和波長特性(莫塞萊定律),這些放射出來的二次X射線的能量及數量被探測系統測量,通過配套軟件將這些射線信號轉化為樣品中各種組分元素的具體含量。
1 儀器測試方法
圖1 X射線熒光分析流程圖
1.1 設備及試劑 設備:X射線熒光光譜儀臺 EDX3200S PLUS;電子天平臺(精度0.01g);自動壓片機臺(壓力不小于40T);鼓風干燥箱臺;振動磨臺;非金屬樣品篩(200目) 試劑: 硼酸粉末(分析純);土壤家標準物質;土壤樣品 1.2 樣品的采集、保存和前處理 土壤樣品的采集和保持按照HJ/T166執行,樣品的風干或烘干按照HJ/T166相關規定進行操作,樣品研磨后過200目篩,于105℃烘干備用。 用電子天平稱量5.00g過篩(200目)的土壤標準物質或樣品和12.00g硼酸粉末(鑲邊材質),稱量誤差±0.05g。然后放入壓片機中壓片成型,壓力30T(壓力范圍20~30T),保壓時間30s。 1.3 工作曲線的建立和樣品分析 設定適當的測量條件,使用EDX3200S PLUS掃描家標準物質(簡稱標樣)GSS-1~GSS-15,建立土壤標樣中關注元素含量與強度的線性工作曲線。然后,對未知樣品進行測量。
2. 測量及數據分析 2.1 土壤中關注的金屬元素及氧化物檢出限測量 EDX 3200S PLUS 配有三組濾光片,根據土壤中關注元素的特性,設置佳測試條件。用家土壤標樣GSS-1-GSS-15標定儀器,建立環境土壤工作曲線。在環境土壤工作曲線下,使用高純SiO2 做空白基體,連續測試11次,根據檢出限公式: 3倍的空白基體的標準偏差除以儀器的靈敏度 終獲得EDX 3200S PLUS測量土壤樣品的方法檢出限,如下表所示
表1 土壤樣品中金屬元素及氧化物的檢出限
序號 | 元素/化合物 | 標要求 檢出限 | 儀器檢出限 | 判定 |
1 | K2O | 1500.0 | 72.2 | 滿足 |
2 | CaO | 2700.0 | 39.3 | 滿足 |
3 | Ti | 150.0 | 6.7 | 滿足 |
4 | V | 12.0 | 1.1 | 滿足 |
5 | Cr | 9.0 | 3.6 | 滿足 |
6 | Mn | 30.0 | 2.2 | 滿足 |
7 | Fe2O3 | 1500 | 6.6 | 滿足 |
8 | Co | 4.8 | 0.13 | 滿足 |
9 | Ni | 4.5 | 1.2 | 滿足 |
10 | Cu | 3.6 | 2.4 | 滿足 |
11 | Zn | 6.0 | 3.26 | 滿足 |
12 | Ga | 6.0 | 1.76 | 滿足 |
13 | As | 6.0 | 6.0 | 滿足 |
14 | Br | 3.0 | 1.3 | 滿足 |
15 | Rb | 6.0 | 1.0 | 滿足 |
16 | Sr | 6.0 | 1.3 | 滿足 |
17 | Y | 3.0 | 1.2 | 滿足 |
18 | Zr | 6.0 | 1.8 | 滿足 |
19 | Pb | 6.0 | 6.0 | 滿足 |
20 | Th | 6.3 | 2.4 | 滿足 |
21 | Ba | 35.1 | 13.5 | 滿足 |
注:
1、Co受Fe元素Kb嚴重干擾,通過公式得出極低檢出限是有定的偏差。2、由于這個型號儀器沒有抽真空(或充氦氣),所以沒有做輕元素如Na2O、MgO、Al2O3和SiO2等。而La、Ce、Hf受散射本底影響無法得到譜,P、S、Cl在家土壤標樣中都是高含量,沒有合適的低含量標樣,主要的原因是受本底影響很大,譜圖不規則,均沒有考慮。 3. 滿足標的元素有K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Rb、Y、Ba、Sr、Br、As、Pb、Th和Zr。
性能參數
產品型號:EDX 3200S PLUS產品名稱:X熒光光譜儀 測量元素范圍:從鈉(S)到鈾(U)元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同) 同時分析元素:次性可測幾十種元素 測量時間:60秒-300秒 探測器能量分辨率為:低可達125eV管壓:5KV-70KV 管流:50μA-1000μA測量對象狀態:粉末、固體、液體輸入電壓:AC 110V/220V環境溫度:15℃-30℃ 環境濕度:35%-70%
X射線熒光的產生原理 X射線管發出X射線照射樣品,樣品中所含的原子則向外發射原子特有的X射線。這種X射線被稱為熒光X射線,各元素具有特定的波長(能量)。因此,通過檢測X射線的波長就能夠進行定性分析。另外,熒光X射線的強度與濃度具有函數關系,檢測每個元素X射線特征波長的X射線量就能進行定量分析。 | 圖為用波爾模型說明電子軌道和熒光X射線產生的原理 |
滿足所有領域不同的應用
■ 電子·電氣 ·RoHS指令、無鹵素等篩選分析 ·半導體、存儲裝置、液晶、太陽能電池等各種薄膜分析 ■ 汽車·機械 · 應對ELV指令的篩選分析 · 各種機械零部件結構分析及鍍層厚度、化學合成外膜附著量的檢測 ■ 鋼鐵·非金屬 · 原材料、合金、焊錫、貴金屬的主要成分、殘余成分的分析 · 爐渣的組成分析 ■ 礦業 · 選礦工藝的成色鑒別分析 ■ 窯業 · 陶瓷、水泥、玻璃、磚、粘土的分析 ■ 石油·石油化學 · 油中硫元素的分析 · 潤滑油中各種添加元素及混入元素的分析 采用高性能的SDD檢測器,確保硬件最佳化,具有前所未有的高靈敏度·高速分析和高分辨率??梢詸z測出6C~的機型正式上線(EDX-8000)。 高靈敏度 –提高檢測下限1.5~5倍- 高性能的SDD檢測器與最佳化的光學系統和一次濾光片的組合,實現前所未有的高靈敏度。 從輕元素到重元素,全范圍輕松應對。與采用傳統Si(Li)半導體檢測器的分析裝置相比,靈敏度也更勝一籌。 高速 –分析速度最大可提高10倍- SDD檢測器在單位時間內X射線熒光的計數率高,因此能夠在更短的檢測時間內進行高精度分析。特別是對金屬材料的分析,這個特點可以得到最大限度的發揮。
高分辨率
無需液氮 SDD檢測器為電子制冷方式,無需液氮冷卻。不僅可以從繁瑣的液氮補充作業中解放出來,更可以降低儀器的維護成本。 檢測元素范圍 卓越的通用性從微小樣品到大型樣品,從粉末樣品到液體樣品,靈活應對各類樣品。 配備進行輕元素的高靈敏度分析時所需的真空檢測單元、氦氣置換檢測單元,以及可實現自動連續測定的12位樣品轉臺(選購件)。 4種準直器以及CCD樣品觀察裝置
使用一次濾光片降低X射線管產生的特性X射線和連續X射線,從而提升檢測靈敏度。尤其分析微量元素時有效。 EDX-7000/8000搭載5種(含OPEN共6種)一次濾光片,可以實現軟件操控自動切換。
*使用濾光片后,()中能量范圍的背景降低。 準直器和一次濾光片自由組合 準直器和一次濾光片獨立驅動,無限制自由組合??梢赃x擇6種×4種=24種組合。 同時,所有組合均可對應FP法進行定量分析。 樣品無損且無需前處理,通過X射線熒光,即可簡單輕松實現對醫藥品中雜質的管理
遵照制藥界的FDA 21CFR Part11標準 遵照FDA 21CFR Part11具有如下功能。 • 安全功能 • 用戶管理功能 • 操作日志,逐位跟蹤日志的生成功能 • PDF生成功能 • 驗證功能
以提升效率為目標,使用LabSolutions CS進行數據管理 包括其它分析裝置的的全部分析數據都可以通過服務器電腦的數據庫進行管理,因此聯網后任何電腦都可讀取數據。不論何處都可實現數據管理統合化。 使用EDX-7000/8000,輕松實現對醫藥品中的金屬進行分析
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