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 特點

·         安全設計： 采用聯鎖裝置，在X射線開啟狀態下無法打開樣品室操作窗。在測試中如果指令樣品室解鎖，則快門關閉同時停止X射線。

·         高分辨率： 入射和發散狹縫可選，為您提供所需的分辨率。

·         高 精 度： 實時角度校正功能，大幅提高角度精度、強度等基本性能，得到高精度測試數據。

·         高信噪比： 可以選配單色器，用于扣除熒光X射線背底，提高信噪比進行高質量數據測試。

·         豐富附件： 一維高速探測器、6位樣品自動轉換器、旋轉樣品臺、氣密樣品臺等

·         應　　用： 石棉、游離氧化鈣等定量分析 ● 醫藥、工業原材料品質管理 ● 大學、科研等

	產品名稱：	X射線衍射儀（XRD）
	產品類別：	分析儀器產品 → X射線衍射儀
	產品編號：	32114594316
	產品信息：

	產品名稱：	殘余應力和奧氏體X射線衍射儀
	產品類別：	分析儀器產品 → X射線衍射儀
	產品編號：	32114314316
	產品信息：

	產品名稱：	高分辨率X射線衍射儀
	產品類別：	分析儀器產品 → X射線衍射儀
	產品編號：	32114263316
	產品信息：

	產品名稱：	多功能X射線衍射儀
	產品類別：	分析儀器產品 → X射線衍射儀
	產品編號：	32114234416
	產品信息：

【光電測量產品】

 光源  真空紫外光譜儀  訂制光譜儀  軟X射線光譜儀  拉曼光譜儀  紅外\\紫外激光觀察儀  夜視儀器  HPLC熒光光度計  CCD相機  動態光散射  高速攝影照相機  光纖光譜儀  海洋系列光譜儀  光譜系統  原子力顯微鏡  探測器  濾光片  紅外光譜儀  單色儀  光柵  照度計  光信號電子學儀器  工業內窺鏡  薄膜測量  PC示波器  數字記錄儀  遠紅外太赫茲光譜儀  太陽光模擬器  袖珍數碼顯微鏡相機  壓電陶瓷  紫外線固化機  紫外反射鏡  濾光片測量儀  電動位移臺/電控位移臺  納米位移臺  光電探測器  均勻光源

【激光系列產品】

 光纖激光器  多模泵浦激光器  激光二極管未封裝bar  激光二極管冷卻裝置  激光器電源  氦氖激光器  CO2激光器  半導體泵浦激光器  氬離子激光器  氦鎘激光器  氮分子激光器  皮秒激光器  激光二極管電源  激光光譜測量  激光能量計/功率計  激光雕刻、打標、切割機  激光二極管模塊  深紫外、紫外固體激光器  信號發生器  超快飛秒激光器  熱電制冷產品  激光光束定位系統  激光光束分析儀  視頻顯微鏡測量系統  激光準直器  多通道激光功率計  半導體激光器  激光測距儀  紅外激光顯示卡  調Q激光器  激光護目鏡  光學平臺  光學調整架  光學微調架  可調嵌入式光學調整架  傾斜位移臺  通用調整臺  光學延遲線  手動位移臺  XY位移臺  光學旋轉臺  角位移調整臺  激光器附件  可變光闌  擴束鏡  拉曼激光器  大功率光纖耦合激光器

【分析儀器產品】

 電化學檢測儀器  電泳系列儀器  分光光度計  色度計  濁度計  注射泵  紫外臺  凝膠成像系統  分析儀  ICP電感耦合  氣相色譜儀  HPLC液相色譜  紅外光譜儀  電子鼻  傳感器  蒸發儀  凱氏定氮儀  熔點儀  干燥儀  熒光光度計  火焰光度計  熱分析儀  溶出度儀  X射線衍射儀  進樣器  X射線熒光光譜儀  全自動儀器  三維表面輪廓儀

【生化儀器產品】

 恒溫孵育器  核酸蛋白分析儀  搖床  真空泵  槍頭、PCR附件  柱溫箱  冰箱  移液槍  低溫培養箱  生物芯片掃讀儀  工作臺  葉綠素效能熒光儀  動物注射泵  恒溫水浴  振蕩器  離心機

【元件耗材】

 窗片  棱鏡  透鏡  激光棒  晶體  反射鏡  分光鏡  偏光鏡/偏光片  光學基片

【光通信儀器】

 ASE光源  光接收機  光纖放大器  光發射機  光通信激光器  探測器

   X’Pert Pro是帕納科公司（前飛利浦公司分析儀器部）于本世紀推出的新一代X射線衍射儀，其主要特點是多功能、模塊化，即光學預校準的模塊化設計，使各個功能模塊能夠任由用戶隨意更換，并且在幾分鐘內即可構造成一種功能化的光路布局，從而使多功能應用終于能夠在一臺儀器上實現，如常規相分析聚焦光路模式、平行光路模式、微區測量模式等。儀器還可以進行小角散射納米粒度測定、應力測定、織構測定等。1  儀器基本系統上的新技術     1.1 陶瓷X光管     帕納科公司（前飛利浦公司分析儀器部）專利設計的新型陶瓷X光管，可使用戶在如下三個方面得到最大的收益：      (1) 重量輕：可在θ-θ型測角儀上得到過去只有在θ-2θ測角儀上才得到的精度。 這樣可使用戶在高精度的θ-θ 型測角儀上從事松散裝填樣品，液晶樣品，液－固相變和高溫樣品的測試（而此類樣品若在θ-2θ測角儀上是無法完成的）。         (2) 壽命長：采用專利設計的較以往的X光管可使工作溫度降低，延長X光管的使用壽命。     (3) 光學定位：由于陶瓷可精確機加工，因而飛利浦可以使其陶瓷X光管通過精機加工進行光學定位，這也是預校正光路的模.塊化得以實現的前提。(此項技術為飛利浦公司獨有專利技術）    1.2   DOPS（直接光學定位系統）     采用此項技術，可使測角儀定位精度提高一個數量級，并可克服以往步進馬達和齒輪轉動技術因齒輪磨損而造成測角儀的角度誤差，可測角儀在多年使用后仍保持的角度測量。    2.    全球最快的聚焦光路探測器:X’Celerator超能探測器     X’Celerator新型超能探測器能夠在不降低分辨率的前提下使每秒計數率提高100倍，因此靈敏度得到大大提高，甚至于在18kW高功率的儀器上錄不到的譜峰都可在此探測器下得到很強的信號。從另外一個方面說，在得到相同的譜圖質量的前提下，可減少錄譜時間100倍，對完成動態反應和相變實驗極為有利。X’Celerator 超能探測器亦采用 帕納科公司獨有的 PreFIX 預校準模塊化設計，能方便地與其他光學模塊或探測器進行互換。 3.    獨創的FPX模塊……即預校準光路的模塊技術     3.1  所有光學模塊在出廠前均經過光學預校準，在用戶現場安裝或更換光學模塊時，操作方便，無需校準光路,整個過程可在兩分鐘內完成。     3.2  入射光路，接收光路和樣品臺均采用模塊化設計, 可進行快速更換, 更換時間不超過5分鐘。     3.3  因此在多用途的X衍射研究工作中，唯有X’PertPro可以將X衍射的所有功能，例如：聚集光路，平行光路，不同樣品臺，正比計數管和PSD等以最快的速度（不超過10分鐘）更換且不用重調光路，最大限度地發揮了各種功能的作用，大大提高了研究工作的效率，而且由于預校準光路，功能更換后立即可進行測試，并且一種模塊被再次換上后能測試數據重合。     3.4    儀器出廠后十年內發展的新光學技術都制成與之配套的模塊,  為儀器的可持續發展提供了一個良好的平臺。 4.    新型光學模塊     由于采用了Mirror、 Hybrid,、Lens等新型光學模塊，提高了光的利用效率  ( 例如平行光路提高30－50倍)。 在不增加光管功率的前提下，大大提高了強度，可使用戶在低消耗、率下完成許多困難樣品的測試。 

【簡單介紹】

【詳細說明】

X射線衍射儀

特點： 1． 進的控制軟件和應用軟件滿足所有物質分析的需要；

       2． 高精度的衍射角度測量系統，獲取更的分析結果；

       3． 高穩定性的X射線發生器和高性的記錄控制單元，得到更穩定的重復測量精度；

       4． 儀器自動校準，X射線管的訓練功能，更易于儀器維護；

       5． 結構化設計，程序化操作，使儀器外形美觀，操作簡便；

       6． 射線散射劑量低于1μSv/h，光閘與射線防護設備連鎖，避免操作者受射線輻射。

產品信息

易操作、多功能、多用途的X射線衍射儀的新時代！ Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。 MAXima_X XRD-7000 LabX XRD-6100 垂直型測角儀 配備高精度垂直型測角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。 XRD-6100具有本質安全結構。 只有門連鎖機構閉鎖時，X射線管才能開啟，具備高安全性。 配備高速運轉（1000°/min）及高精度角度重現性（±0.0001°）的垂直型測角儀，可進行各種樣品的測定。 驅動機構為獨立2軸驅動，可選擇θ-2θ聯動或θ、2θ軸獨立驅動，特別對薄膜測定行之。 備有豐富的附件（軟件/硬件）來滿足多種需要。 對應工業環境測定標準/工業環境評價標準修訂 X射線衍射儀XRD-6100 環境測定包 適合工業環境中的游離硅及石棉的定性/定量分析。   MAXima_X XRD-7000 高精度樣品水平型測角儀S 配備具有0.0001°最小步進的高精度樣品水平型測角儀。根據分析目的，可以選擇適合分析大型樣品的Ｌ型（最大350mmφ樣品）和通用的S型。 XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀，能夠測定超大型樣品。 不但可進行定性/定量等基本分析，還可以應用于殘留奧氏體定量、環境定量、晶格常數的精密化、結晶度的計算、晶體粒徑和晶格應力的計算、晶系確定、Rietveid結構解析軟件進行的晶體結構解析。通過追加附件，還可以應用于應力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。 利用新開發的大型R-θ樣品臺，可以進行最大350mmφ樣品全表面的自動應力成圖測定。      使用XRD-7000進行的剎車盤應力成圖分析實例 使用XRD-7000進行的剎車盤應力成圖分析實例 應力自動成圖系統 在R-θ樣品臺圖像頁面設定樣品位置，一旦啟動就可以全自動的進行成圖分析，同時自動進行應力分析結果的計算。還可以對分割后得到的測定結果進行拼接等處理。此外，應力解析結果還可以圖形顯示。 下圖為剎車盤的應力成圖例。Fe211的分布一目了然。 對應工業環境測定標準・工業環境評價標準修訂 X射線衍射裝置XRD-6000 環境測定包 適于工業環境中的游離硅以及石棉的定性・定量分析。 在勞動安全衛生法中，關于因勞動者在工作中的暴露而對其造成健康損害的92種物質，規定必須實施其作業環境的測定。其中，粉塵中的游離硅以及石棉的定性・定量分析可以使用X射線衍射裝置。最近因相關法規的修訂，對有害物質的管理濃度、分析程序進行了修改。 本測定包配備了依據「基底標準吸收校正法」的樣品臺和定量軟件，這不僅是使用X射線衍射裝置XRD-6000對收集在濾紙上的工業環境測定中的游離硅、石棉進行定性分析需要的，在這些微量樣品的定量分析中也是必備的。 游離硅的定性・定量分析 工業環境測定中礦物性粉塵的管理濃度為按以下公式計算出的量。（從2005年4月1日開始實行） E=3.0/（0.59Q+1） （參考）修訂前E=2.9/（0.22Q+1）E：管理濃度mg/m3 Q：游離硅含有率（%） 所以知道粉塵中游離硅酸的含有率是很重要的。游離硅種類有石英、微晶物、鱗石英等。 在此回修訂中，首先規定使用X射線衍射裝置掌握含有什么種類的游離硅（定性分析），根據其定性結果，以使用磷酸法或X射線衍射裝置的基底標準吸收校正法進行定量。 下圖表示這些游離硅的衍射模式，分別具有各自的特征峰，因此，易于識別其種類。 目標物質的衍射X射線強度因受基底物質吸收的影響，必須進行校正。為進行校正必須求得基底物質的X射線吸收系數。可在一次的測定中將其完成的方法就是「基底標準吸收校正法」。本測定包包括采用了此基底吸收校正法的專用定量分析軟件。 各種游離硅的衍射模式 石棉的定性・定量分析 關于石棉，在2005年7月實施了【石棉傷害預防規則】。適用此規則的建材等樣品，如果其石棉含量超過重量5％左右以上，則可使用X射線衍射裝置以標準添加法或內標添加法對采集來的樣品進行定量，但對于少于上述含量的樣品有時不能進行定量。 此時，作為只溶解樣品基底成分的前處理方法，實施甲酸前處理法，然后使用X射線衍射裝置以基底標準吸收校正法進行定量。 在石棉的定性・定量分析中，也可使用配備有基底標準吸收校正法的環境測定樣品臺的X射線衍射裝置XRD－6000環境測定包。 各種石棉的衍射模式 石棉主要有蛇紋石類的纖蛇紋石，角閃石類的鐵直閃石、虎睛石等。使用X射線衍射法利用它們的特峰進行定量分析。 征 環境測定包 配置 1. X射線衍射裝置XRD-6000（2kW,NF Cu管球） 1套 2. 石墨單色儀（CM-3121） 1套 3. 環境測定樣品臺（RS-2001） 【規格】 ・旋轉樣品臺 ・基底標準吸收校正用濾片架（Zn） ・環境定量軟件 1套 4. 冷卻水循環裝置 1套 選配件 1. 基底標準吸收校正用濾片架（Al） 2. I CDD數據庫（PDF2 CD-ROM） 3. PDF2檢索軟件 采用強大的多毛細管平行光束系統，可對應凹凸不同的樣品的分析，擴大應用范圍。    使用多毛細管平行光束系統的測定實例

 X射線衍射儀 高辨率衍射儀 衍射分析儀 衍射儀  

小型X射線衍射儀

主要特點：無機械誤差的德拜-謝樂幾何學 ,帶有可連接ICDD數據庫的軟件的計算機控制

技術參數：電源:單相 220±20V(AC),50/60Hz, X-ray管功率:10 W (25kV, 0.4mA),X-ray光斑尺寸:0.2 x 2mm,陽極靶材:Cu,X-ray探測器的曲率半徑:114mm,探測的2θ范圍:0-55度.角度的分辨率：0.14度,最大計數量:10000次/秒,測量的角度范圍(2θ):16度-121度,衍射峰位置的測量精度:±0.02度,

標準包裝：外型尺寸:400 x 560 x 300mm,凈重：26 Kg.

技術參數     1.X射線發生器穩定性 0.005% 全負載變化，0.005% for 10% rms線性變化2.掃描速度 多道平均，0.0002°/min~60°/min3.光學系統 可變狹縫聚焦和平行(多毛細管)光學系統4.平行光束 XOS多毛細管光纖，10×10mm斷面，Osmic優級d形反射鏡5.X射線發生器功率 230 VAC±10%  主要特點     1.織物—利用多毛細管光學系統的平行光束幾何設計提高強度10倍，粒子統計學效果改善20倍(Schulz準直儀的照射面積為5 mm2，而多毛細管光學系統的照射面積為100 mm2)，無需更換樣品臺2.薄膜—多毛細管光學系統具有內在的達到約0.3度的準直作用，因而在小角度測量時具有的性能，靈敏度提高5倍左右，無需狹縫，也可以使用光縫來限制照射的面積。3.粉末，平行光束模式—無需聚焦，所以無需固定樣品高度，可以分析粗糙不規則的樣品，每個譜峰都進行校準，大角度時譜峰強度提高10倍4.粉末，聚焦模式—高分辨率聚焦掃描，粉末樣品臺以三角支架固定安裝，高度精確可調。5.殘余應力—細線Eulerian Cradle能達到155度，依然有很好的聚焦，峰形沒有延遲，可以獲得更好的譜峰質心測量，譜峰強度更高，其統計學效果更好，測量更快。       儀器介紹     GBC Difftech帶來了真正稱得上是“材料分析器”的衍射儀，其的性能包括： ● 可變平行光束和聚焦幾何尺寸 ● 可變粉末樣品臺和Eulerian Cradle ● 具有0.4度狹縫準直器的平行光束檢測器 ● 可變狹縫聚焦檢測器和石墨單色計 ● 兩個檢測器固定安裝 ● XOS多毛細管光纖產生10×10mm的準平行光束 ● 平行光束半徑250mm，聚焦半徑175~250mm ● 用于紡織品和殘余應力的Eulerian Cradle ● X射線熒光檢測器可同時進行XRF和XRD分析 另外儀器還有如下獨特之處： ● 重量輕，帶提手，2個人即可搬運 ● 革新性的諧波變速箱測角器 ● 大而寬的加鉛丙烯酸聯鎖保護防護窗 ● 軟件控制防護窗的開關按鈕 ● 久經考驗的電子學系統 ● 可搬運而無需重新對準光路，尤其適合于野外作業