激光干涉儀產品及廠家
dsj6000激光干涉儀具有測量精度高、測量范圍大、測量速度快、高測速下分辨率高等優點，結合不同的光學鏡組，可實現線性測長、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測量。在sj6000激光干涉儀動態測量軟件配合下，可實現線性位移、角度和直線度的動態測量與性能檢測，以及進行位移、速度、加速度、振幅與頻率的動態分析，如振動分析、絲桿導軌的動態特性分析、驅動系統的響應特性分析等。
更新時間:2024-12-17
bw17-j4型激光平面干涉儀是一種使用方便的光學精密計量儀器，主要用于精密測量光學平面度。儀器配有激光光源（波長為6328a）。
更新時間:2024-12-13
雙縫干涉實驗儀是高中物理學生實驗儀器。它與j2507型光具座和j1202型或j1202-1型學生電源配套使用，可以觀察白光和單色光通過雙縫所產生的干涉圖樣，并可測量單色光的波長。
更新時間:2024-12-13
jc503-mg1邁克爾遜干涉儀主要用于觀察光的各種干涉現象并驗證相關基礎理論，配套法布里-保羅干涉裝置還可觀察多光束干涉銳環，測量相鄰光譜線間的波長差等，是邁克爾遜干涉實驗必備設備。
更新時間:2024-12-13
jc503-d60該邁克爾遜干涉儀主要用于高等院校物理實驗中觀察光的干涉現象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋），測定單色光波長，測定光源和濾光片相干長度、配法布里─珀羅系統觀察多光束干涉現象。
更新時間:2024-12-13
該儀器主要用于高等院校物理實驗中觀察光的干涉現象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋），測定單色光波長，測定光源和濾光片相干長度、配法布里─珀羅系統觀察多光束干涉現象。
更新時間:2024-12-13
renishaw雷尼紹xl-80激光干涉儀xl-80激光頭可以產生非常穩定的激光光束，采用的波長可溯源至家和際標準。特性與優點· 激光穩頻精度通過熱控制技術將激光管長度變化控制在幾納米范圍內，達到3年內精度保持在±0.05 ppm（百萬分之）。· 線性測量精度在整個環境范圍內，即從0 oc - 40 oc（32 of - 104
更新時間:2024-12-10
存貨名稱品牌規格型號電路板bautzzmp 92/70 h/v 2005728剩余電流監測裝置benderrcma420-d-1位移檢測器twkkds581-75-0,5-a01 s/n：166805編碼器kubler8.5860.1212.1002模塊euchnerces-a-lna-sc-077715
更新時間:2024-12-06
由德國jenaer公司生產的微位移測量激光干涉zlm800儀，主要用于微位移部件的測量，角度變化量的監測，運動平臺變化量的檢測，及光刻機幾何量的測量，數控機床幾何量的測量等。
更新時間:2024-11-09
zygo新型verifire hdx激光干涉儀是為超高精度的光學元件和系統設計和制造的，可以獲得元件表面的中頻特征信息。系統包含現有verifire hd的所有功能-比如qpsi和長壽命穩頻的激光器，并增加了重要的增強功能，如刷新行業水平的分辨率和成像能力，儀
更新時間:2024-10-29
美國zygo激光干涉儀dynafizdynafiz 激光干涉儀:在空氣湍流和端振動的環境下進行動態測量 ;dynafiz 激光干涉儀優化的光學系統提供了清晰可見的中間空間頻率特征 ;livephase™ 軟件可以進行實時zernike分析 ;movie模式獲取隨時間變化的波 ;dynafiz 激光干涉儀 高功率，長壽命穩頻氦氖激光器。
更新時間:2024-10-29
昊量光電新推出的激光振動傳感器光學元件集成化可以實現更加復雜的設計和更多的功能。集成光學芯片可以在一個單一的光學基底上包含數十到數百個光學元件，包括激光器、調制器、光電探測器和濾波器等。具有不同延遲線的光學干涉儀蕞先在集成光學芯片上實現，并通過一個一體化封裝將集成光學芯片、激光二極管、探測器陣列和光學透鏡組成一個小型化激光傳感模組。自主研發的激光傳感平臺通過專有的數字信號處
更新時間:2024-10-28
光纖法布里-珀羅干涉儀系列產品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設計。ffp 的設計簡潔優雅的關鍵在于其無透鏡全光纖結構。沒有準直光學器件或透鏡，消除了其他法布里-珀羅元件技術的缺陷，包括未對準、環境敏感性和外來模式。ffp 波器遵循 airy 函數。工程師可以將其設計到 oem 系統中，因為他們知道它將提供非常接近理論數學模型的結果。
更新時間:2024-10-28
測量精度可達0.6nm(λ/1000). 其標桿產品d7激光干涉儀采用點衍射技術，主要用于高精度的表面（平面,球面,非球面,自由曲面）檢測及透射波前檢測。
更新時間:2024-10-28
昊量光電推出的皮米精度位移干涉測量儀qudis是對納米別的位移波動進行量測的理想儀器，基于其獨特的測量原理，相對距離的重復精度達到了所未有的50皮米。
更新時間:2024-10-28
phasics短波近紅外波前傳感器sid4-swir將phasics的四波剪切技術與ingaas探測器結合在一起。 憑借其高取樣分辨率（80 x 64相位取樣點）和高靈敏度，它提供了從900 nm到1.7μm波段的精準波前測量。
更新時間:2024-10-28
phasics大口徑超高分辨率波前傳感器/波前分析儀sid4-uhr可用于光學計量需求，它結合了sid4的易于光路搭建的特點，并擁有超高分辨率及相位精度。大口徑超高分辨率波前傳感器/波前分析儀sid4-uhr的大口徑傳感器靶面可以實現對整個被測樣品的實時波前測量。
更新時間:2024-10-28
phasics sid4 dwir中遠紅外波前傳感器/波前分析儀隨著光波波前探測技術的發展，各種波前傳感器應運而生。從測量原理上可以分成兩類：一類是根據幾何光學原理，測定波前幾何像差或面型誤差，主要有shack－hartmann 波前傳感器，曲率傳感器和pyramid 波前傳感器等；另一類是基于干涉測量原理，探測波前不同部分的干涉性，來獲取波前信息，主要有剪切干涉儀波前傳感器和相位獲取傳感器等。
更新時間:2024-10-28
phasics sid4 uv紫外波前傳感器/波前分析儀作為低可至波長250 nm的高分辨率波前傳感器，phasics sid4 uv紫外波前傳感器/波前分析儀非常適合于紫外光學測量，包括用于光刻或半導體應用紫外激光表征，以及透鏡和晶圓的表面面型檢測。
更新時間:2024-10-28
phasics sid4-swir-hr高分辨率短波紅外波前傳感器將phasics的四波剪切技術與ingaas探測器結合在一起。 憑借其超高取樣分辨率（160 x 128相位取樣點）和高靈敏度，它提供了從900 nm到1.7μm波段的高精度波前測量。
更新時間:2024-10-28
phasics sid4-uv-hr高分辨率紫外波前傳感器/波前分析儀是測量光學元件和光束波前質量的一種很好的替代傳統干涉儀的方法。作為低可至波長250 nm的高分辨率波前傳感器，phasics sid4-uv-hr高分辨率紫外波前傳感器/波前分析儀非常適合于紫外光學測量，包括用于光刻或半導體應用紫外激光表征，以及透鏡和晶圓的表面面型檢測。
更新時間:2024-10-28
phasics sid4-nir近紅外波前傳感器/波前分析儀是測量光學元件和光束波前質量的一種很好的替代傳統干涉儀的方法。sid4-nir是一款高性價比的高分辨率波前傳感器，專門用于測量和對準1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透鏡。
更新時間:2024-10-28
phasics sid4-eswir短波紅外波前傳感器/波前分析儀是一種創新的解決方案，可用于檢測空間光通信、測試儀表、軍用夜視系統或監控設備中使用的短波紅外光學系統。
更新時間:2024-10-28
昊量光電推出的皮米級絕對距離測量干涉儀qudis是目前市面上同類別唯一可以測量皮米級絕對距離的干涉儀。基于其獨特的測量原理，相對距離的重復精度達到了前所未有的50皮米。絕對距離也可以達到20m。
更新時間:2024-10-28
日立高新技術科學公司于2019年3月起，在中國開始銷售利用光干涉原理進行非接觸式無損傷三維表面形態測量的納米尺度3d光學干涉測量系統“vs1800”，該產品搭配有支持多目的表面測量國際標準“iso 25178*1參數對比工具”，通過簡單而準確的樣品測量支持客戶的分析業務，與此同時，憑借不斷創新積累的三維測量性能，實現高精度、高分辨率的表面性狀的測量。
更新時間:2024-10-25
本儀器是是種采用量塊或標準零件借以高精度的比較方式的立式精密長度計量儀器。主要用于150mm以下塊規，亦可用作高精密度的長度和外徑的精密測量，是各級計量室的基本長度計量儀器之。
更新時間:2024-10-18
使用ac220v，50hz供電，內部裝有紅色鐳射光源，波長為650nm，通過外部移動尺上的演示片演示光的干涉衍射現象，讓學生清晰的看到衍射和衍射圖形加深對理論的消化吸收。
更新時間:2024-10-18
邁克爾遜干涉儀主要用于高等院校物理實驗中觀察光的干涉現象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋）、測定單色光波長、測定光源或濾光片相干長度、配法布里—珀羅系統觀察多光束干涉現象。附加適當裝置，還可以擴大實驗范圍（如測薄片厚度和折射率，空氣折射率等）。因此，它是種用途很廣的驗證有關基礎理論的教學實驗儀器。
更新時間:2024-10-18
邁克爾遜干涉儀主要用于高等院校物理實驗中觀察光的干涉現象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋）、測定單色光波長、測定光源或濾光片相干長度、配法布里—珀羅系統觀察多光束干涉現象。附加適當裝置，還可以擴大實驗范圍（如測薄片厚度和折射率，空氣折射率等）。因此，它是種用途很廣的驗證有關基礎理論的教學實驗儀器。
更新時間:2024-10-18
dynafiz是一種新型菲索型瞬態測量激光干涉儀，特殊優化的光學設計，可以在劇烈振動和空氣擾動的環境下檢測。可以在同一光路墡加移相模式進行高精度計量檢測。
更新時間:2024-09-23
verifire hd——帶有qpsi抗震技術的高分辨率激光干涉儀zygo的 verifire hd干涉儀系統能夠對平面和球面面形進行快速的高分辨率的測量，能夠測量單個光學元件和光學組件的透射波陣面。測量時，干涉腔的長度被精確的調節的同時通過高幀速的相機采集干涉圖像，最后通過軟件對獲取到的條紋進行計算分析給出樣件表面精細的面形信息。
更新時間:2024-09-23
zygo verifire hdx 是為計量高精度光學元件和光學系統而專門設計的激光干涉儀．主要特點：低噪聲、高速、1.16千萬像素的傳感器，96赫茲運行；突破像素相助的優化的光學設計，行業領先的空間分辨率和itf；高功率、長壽命hene激光源，3年質保；抗震采集技術滿足各種計量測試環境和各種復雜測試設置。
更新時間:2024-09-23
產地;新加坡 三維激光測振儀 3d激光測振儀激光測振儀（進口）位移分辨率高達0.008納米。測量物體振動的速度,加速度,位移,運動軌跡,頻率.三維激光測振可以實現三軸振動測量。多點激光測振可以同時實現16個振動點振動并可以測量物體瞬間振動和實時的振動模擬.
更新時間:2024-09-04
本裝置可以用散亂光光彈性的原理、測定以往無法測定的鋰鈉離子交換的化學強化玻璃。若表面附近有鉀離子層的話、兼容與slp散亂光應力計的數據相合成以分析斷面的應力分布
更新時間:2024-09-02
德國進口雙頻激光干涉儀zlm700，用于機床的定位精度、重復定位精度、位移距離測量、速度加速度測量、線性度、直線度、垂直度、平面度、偏擺角、俯仰角、滾動角、角速度、圓形軌跡、微振動測量，還能夠測量數控機床回轉臺的定位精度和重復定位精度等，從而實現定位、校準、控制和補償。
更新時間:2024-08-31
zlm900微測量檢測激光干涉儀由德國jenaer耶拿爾公司生產，為三軸外差式雙頻激光干涉儀，用于位移、俯仰角和偏擺角的三角關系測量，主要用于運動平臺等微位移的測量和檢測，角度變化量的監測等。
更新時間:2024-08-31
氣源處理器sfc300結構： 調壓過濾給油器 過濾精度： 40 調壓范圍： 0.05-0.85（mpa） 建議用油： iso vg32同用油 材質： 壓鑄鋁 高使用壓力： 0.95（mp
更新時間:2024-08-26
kla-d-s雙向拉繩開關 廣泛應用于鋼鐵、水泥、電廠、礦山等具有帶式輸送機的廠礦，該產品安裝在膠帶輸送機兩側，是用于膠帶輸送機緊急事故停機的一種保護開關，在開關操作距離內任何一點拉動鋼絲繩，切斷運行電路使全線停機，實現對膠帶機及人生安全的保護。
更新時間:2024-08-26
用于sentech instruments等離子系統的sentech sli激光干涉儀端點監測器與聚焦的相干激光束一起工作。激光束穿過等離子系統的頂部視口，并被樣品反射。反射光照射到檢測器上并測量強度。
更新時間:2024-08-14
電工用硅鋼薄板俗稱矽鋼片或硅鋼片。是一種含碳極低的硅鐵軟磁合金,一般含硅量為0.5～4.5%，經熱、冷軋制成。一般厚度在1mm以下，故稱薄板。加入硅可提高鐵的電阻率和大磁導率，降低矯頑力、鐵芯損耗（鐵損）和磁時效。主要用來制作各種變壓器、電動機和發電機的鐵芯。
更新時間:2024-08-14
德國 米銥 micro-epsilon 干涉儀 型號 ims5400-th70/mp micro-epsilon產品范圍包括用于測量距離和位移的傳感器、用于紅外溫度測量和顏色檢測的傳感器，以
更新時間:2024-08-11
sj6000深圳中圖激光干涉儀具有測量精度高、測量范圍大、測量速度快、高測速下分辨率高等優點，結合不同的光學鏡組，可實現線性測長、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測量。
更新時間:2024-07-30
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