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x-ray膜厚測試儀使用說明@新聞快訊x-ray膜厚測試儀是yi款性價比高的產品，為鍍層測厚而業研發生產的，在行業內的占有量不斷提高，得到了客戶的廣泛應用和。
更新時間:2024-12-31
x-ray膜厚測試儀生產廠家@市場報道x-ray膜厚測試儀是yi款性價比高的產品，為鍍層測厚而業研發生產的，在行業內的占有量不斷提高，得到了客戶的廣泛應用和。
更新時間:2024-12-31
該儀器測量適合于任何應用，該產品能對任何材料進行光澤測量－涂料、塑料、高放射的金屬。它的測量范圍被擴展到了2000光澤單位，保證了始終可靠的結果，符合國際標準并由din標準批準。
更新時間:2024-12-31
qubit 4熒光計是流行的qubit熒光計，設計用于精確測量dna、rna和蛋白質的數量，現在還可以使用高度敏感的qubit分析法測量rna的完整性和質量。對qubit 4熒光計進行了重新設計，以運行qubit rna iq（完整性和質量）分析。qubit 4熒光計和rna iq分析試劑盒起工作，只需兩個簡單的步驟就可以準確區分完整的和降解的rna。
更新時間:2024-12-31
beampeek激光光束焦點位置功率分析儀beampeek™系統實現了增材制造（am）激光器的同步光束分析、焦點大小和位置以及功率測量。它跟蹤這些參數如何隨時間變化，以幫助保持制造零件的質量和可重復性。beampeek™集成了激光光束分析相機、功率計、光束收集器、分束器和光學器件，為工業環境中的增材制造激光分析提供了全包解決方案。
更新時間:2024-12-30
beamwatch am高功率光束分析儀 beamwatch am 是一種集成激光測量系統，旨在測量基于激光的增材制造系統的關鍵激光束參數。beamwatch am 可同時測量相機視野 (fov) 中光束焦散的多個輪廓。實時測量以視頻速率進行。他們包括：腰部（焦點）寬度和位置
更新時間:2024-12-30
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