◆易暢YT260涂鍍層測厚儀（防腐層測厚儀）【使用方法】儀器裝上電池后，按下“ON/OFF”按鍵開機，等蜂鳴聲響后，液晶顯示屏上顯示"0"時，儀器自動進入測量狀態，直接將測頭垂直并快速緊壓到工件表面的涂鍍層上，儀器通過測頭自動測量出涂層厚度，并通過顯示屏把厚度值顯示出來（注意：測量時注意測頭保持垂直）
◆易暢YT260涂鍍層測厚儀（防腐層測厚儀）【簡介】DR260涂鍍層測厚儀是一款專業測量金屬材料表面涂鍍層覆蓋層物體厚度的專業無損檢測儀器。采用磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如：鋼、鐵）上非磁性覆層的厚度（如：鍍鋅、鉻、錮、琺瑯、橡膠、粉未、油漆、電泳、搪瓷、防腐層，涂料等）
◆易暢YT260涂鍍層測厚儀（防腐層測厚儀）【特點】◇操作簡單，測試速度快，靈敏度好，測量精度高◇連接電腦進行通信,讀出存貯數據進行保存或打印（適用U型主機）◇可采用兩種校準方式：零點校準和兩點校準◇操作過程有蜂鳴聲標示（單次測量方式）◇具有兩種測試方式：連續（CONT INUE）和單次（SINGLE）測量方式◇設有四個統計功能：最大值（MAX）、最小值（MIN）、平均值（MEA）、測量次數（No）◇大容量存儲，可存貯800多個測量數據◇自動識別鐵基和非鐵基底材◇公英制轉換μm/Mil◇背光顯示模式，低電壓指示◇手動/自動關機功能
◆易暢YT260涂層測厚儀（防腐層測厚儀）【技術參數】◇測量范圍：0-1250/3000μm（超過1250μm要提前告知廠家另行定制）◇使用環境：溫度：0℃-50℃,濕度：20%RH—90%RH,無強磁場環境下使用◇最小基體面積10*10mm◇最小曲率：凸5mm;凹5mm◇基體臨界厚度：0.5mm◇最薄基體：0.4mm◇測量精度：±（1%-3%）H+1.5μm◇分辨率：0.1μm /1μm（100μm以下為0.1μm,100μ以上為1μm）◇外形尺寸：130mm*70mm*24mm◇重量：100g◇電源：三節（7號）堿性電池
◆易暢YT260涂鍍層測厚儀（防腐層測厚儀）出廠清單：
●YT260（標準配置）◇主機◇標準片◇基體 鐵基體一塊◇電池◇說明書◇合格證◇清潔布◇通訊數據線 適用于U型主機（選配）◇軟件 適用于U型主機（選配）
| MCH系列電腦膜層測厚儀是高新技術的結晶。它采用微機技術，精度高，數字顯示，示值穩定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統計，低電壓指示、上下限報警功能。其性能達到國際同類產品先進水平。 本儀器采用磁性測厚法，方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻鍍層，或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑，瀝青等涂層的厚度，該儀器廣泛用于機械、汽車、造船，石油、化工、電鍍、噴涂、搪瓷等行業。是鐵磁材料保護層質量檢測的必備工具。
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把測厚儀的表面迅速地壓入精制的膜層上，此時外部鋸齒恰好卡在基體上。然后移開儀器。必須選擇測量的范圍，所以一部分鋸齒是濕的，另一部分是干的 。選擇另外的合適的測量范圍。根據儀器最短的鋸齒和鄰近干的鋸齒，可以計算出膜層的平均值。根據標準的規格，請用同樣的方法重復測量至少2次，以減少誤差。測量完后，擦干儀器，放入合適的溶劑中。
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把測厚儀的表面迅速地壓入精制的膜層上，此時外部鋸齒恰好卡在基體上。然后移開儀器。必須選擇測量的范圍，所以一部分鋸齒是濕的，另一部分是干的 。選擇另外的合適的測量范圍。根據儀器最短的鋸齒和鄰近干的鋸齒，可以計算出膜層的平均值。根據標準的規格，請用同樣的方法重復測量至少2次，以減少誤差。測量完后，擦干儀器，放入合適的溶劑中。
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把測厚儀的表面迅速地壓入精制的膜層上，此時外部鋸齒恰好卡在基體上。然后移開儀器。必須選擇測量的范圍，所以一部分鋸齒是濕的，另一部分是干的 。選擇另外的合適的測量范圍。根據儀器最短的鋸齒和鄰近干的鋸齒，可以計算出膜層的平均值。根據標準的規格，請用同樣的方法重復測量至少2次，以減少誤差。測量完后，擦干儀器，放入合適的溶劑中。
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把測厚儀的表面迅速地壓入精制的膜層上，此時外部鋸齒恰好卡在基體上。然后移開儀器。必須選擇測量的范圍，所以一部分鋸齒是濕的，另一部分是干的 。選擇另外的合適的測量范圍。根據儀器最短的鋸齒和鄰近干的鋸齒，可以計算出膜層的平均值。根據標準的規格，請用同樣的方法重復測量至少2次，以減少誤差。測量完后，擦干儀器，放入合適的溶劑中。
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Fischerscope X-RAY XDL230 X射線熒光鍍層厚度測試儀
一、儀器介紹
適用于Windows 2000或Windows XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。頻譜庫中允許創建從元素鈦至鈾的任何一種新的產品。能通過“應用工具箱"（由一個帶所有應用參數的軟盤和校準標準塊組成）使應用的校準簡單化畫中畫測試件查看和數據顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離，見背面）圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中 對試件與視準器之間的距離進行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達80mm（3.2〞）
典型的應用范圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
最多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。
測量模式用于：
單、雙及三層鍍層系統
雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量
雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析（兩層的厚度和合金成分都能被測量）
能分析多達四種金屬成分的合金，包括金的開數分析的特殊功能。
對電鍍溶液的分析能力可達包含一或二種陽離子的電鍍液。
可通過RS-232接口或使用網絡環境控制命令設定數據的輸出和輸入以實現系統的遠程控制。
通過使用可選擇的帶合成條形碼讀入器的鍵盤實現產品選擇。
可編程的應用項圖標，用于快速產品選擇。
完整的統計功能，SPC圖，標準的概率圖和矩形圖評估。 報告生成，數據輸出
語言可選擇：英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，及中文
菜單中的某些選擇項可授權使用
二、主要特點：
FISCHERSCOPE XDL 2xx是一款基于Windows? 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統。測量方向從上往下。XDL 2xx 的特色是獨特的距離修正方法。DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別。對于XDL 2xx 帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在復雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現簡便測量的可能性。特別針對微波腔體之類樣品的底部鍍層厚度進行測量。 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統有超過17年的經驗。通過對所有相關過程包括X射線熒光測量法的精確處理和使用了的軟件和硬件技術，FISCHER公司的X射線儀器具有其獨特的特點。的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標準片校準并一定測量精度的情況下測量復雜的鍍層系統，同時可以對包含多達24種元素的材料進行分析（使用WinFTM® V.6軟件）
三、技術參數：
1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根據技術標準DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測試方法；
2.原始射線從上至下；
3.X-射線管高壓設定可調節至的應用：50kV，40kV或30kV；
4.單個0.3mm直徑（12 mils）的標準視準器，在附加費用的基礎上可選擇0.05×0.3 mm（2×12 mil）帶槽視準器；或直徑0.1mm;或直徑0.2mm；或0.4X0.4mm方形。
5.測量箱外部尺寸：（高×寬×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大約為105kg（120lbs）；
6.帶槽箱體的內部尺寸：（高×寬×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）帶向上回轉箱門；
7.嵌入式固定的測試件支承板，需要時可移去以適用于大件的超出尺寸的測試工件。
8.從X-射線頭部（X-射線管，成比例的反射接收器及視準器）至測試件平面支承板有三種可選擇的固定距離。需要的設定距離（見背面）必須在定貨時明確（標準設定：中間位置）
9.試件查看用彩色攝像機
10.有LED狀態指示燈的測量開始/結束按鈕與測試箱集成在一體。
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| FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 2xx |
| 測量方向 | 從上往下 |
| X-射線管型號（W: 鎢管、MW: 微聚焦鎢管） | W |
| 可調節的高壓：30kV; 40kV; 50kV | 有 |
| 開槽的測量箱體 |
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| 基本Ni濾波器 | 有 |
| 接收器（Co）可選擇的WM-版本 | 有 |
| 數準器數目 | 1 |
| z-軸 | 無，或電機驅動或可編程的 |
| 測量臺類型 | 固定臺面或手動XY工作臺或可編程的XY工作臺 |
| 測試點的放大倍率 | 20 - 180 x |
| DCM方法（距離控制測量） | 有 |
| WinFTM® 版本 | V.6L |
| 操作系統：Windows XP prof. | 有 |
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 2xx 儀器系列目前版本：
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210 固定的測量臺面和固定的X-射線測量頭距離
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 220 固定的測量臺面和電機驅動的X-射線測量頭Z-軸運行
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230 手動的XY工作臺面和電機驅動的X-射線測量頭Z-軸運行
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240 可編程的XY工作臺和可編程的X-射線測量頭Z-軸運行