| 項目 | 技術指標 |
| 儀器型號 | EM13 LD/635 (或其它選定波長) |
| 激光波長 | 635 nm (或其它選定波長，高穩定半導體激光器) |
| 膜厚測量重復性（1） | 0.5nm (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 折射率測量重復性（1） | 5x10-3 (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 單次測量時間 | 與測量設置相關，典型3s |
| 的膜層范圍 | 透明薄膜可達1000nm 吸收薄膜則與材料性質相關 |
| 光學結構 | PSCA（Δ在0°或180°附近時也具有極高的準確度） |
| 激光光束直徑 | 2mm |
| 入射角度 | 40°-90°可手動調節，步進5° |
| 樣品方位調整 | Z軸高度調節：±6.5mm 二維俯仰調節：±4° 樣品對準：光學自準直和顯微對準系統 |
| 樣品臺尺寸 | 平面樣品直徑可達Φ170mm |
| 外形尺寸 | 887 x 332 x 552mm (入射角為90º時) |
| 儀器重量（凈重） | 25Kg |
| 選配件 | 水平XY軸調節平移臺，真空吸附泵 |
| 軟件(ETEM) | * 中英文界面可選 * 多個預設項目供快捷操作使用 * 單角度測量/多角度測量操作和數據擬合 * 方便的數據顯示、編輯和輸出 * 豐富的模型和材料數據庫支持 |
ST2000薄膜厚度測量儀
ST2000薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數據。
3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4） 可測量3層以內的多層膜。
5） 根據用途可自由選擇手動型或自動型。
6） 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品
7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專用）
ST2000薄膜厚度測量儀產品規格/型號
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測量儀|的詳細介紹
產品簡介: ES01是針對科研和工業環境中薄膜測量推出的高精度全自動光譜橢偏儀，系列儀器的波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。ES01系列光譜橢偏儀用于測量單層和多層納米薄膜的層構參數（如，厚度）和物理參數（如，折射率n、消光系數k），也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數k。ES01系列光譜橢偏儀適合于對樣品進行實時和非實時檢測。特點： 原子層量級的檢測靈敏度 國際先進的采樣方法、高穩定的核心器件、高質量的設計和制造工藝實現并保證了能夠測量原子層量級的納米薄膜，膜厚精度達到0.05nm。 秒級的快速測量 快速橢偏采樣方法、高信噪比的信號探測、自動化的測量軟件，在保證高精度和準確度的同時，10秒內快速完成一次全光譜橢偏測量。 一鍵式儀器操作 對于常規操作，只需鼠標點擊一個按鈕即可完成復雜的測量、建模、擬合和分析過程，豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的高級操作需求。 應用：ES01系列尤其適合于科研和工業產品環境中的新品研發。ES01系列多種光譜范圍可滿足不同應用場合。比如： ES01V適合于測量電介質材料、無定形半導體、聚合物等的實時和非實時檢測。 ES01U適合于很大范圍的材料種類，包括對介質材料、聚合物、半導體、金屬等的實時和非實時檢測，光譜范圍覆蓋半導體的臨界點，這對于測量和控制合成的半導體合金成分非常有用。并且適合于較大的膜厚范圍（從次納米量級到10微米左右）。 ES01系列可用于測量光面基底上的單層和多層納米薄膜的厚度、折射率n及消光系數k。應用領域包括：微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁介質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等。典型應用如： 半導體：如：介電薄膜、金屬薄膜、高分子、光刻膠、硅、PZT膜，激光二極管GaN和AlGaN、透明的電子器件等）； 平板顯示：TFT、OLED、等離子顯示板、柔性顯示板等； 功能性涂料：增透型、自清潔型、電致變色型、鏡面性光學涂層，以及高分子、油類、Al2O3表面鍍層和處理等； 生物和化學工程：有機薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子層、薄膜吸附、表面改性處理、液體等。凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測量儀|的詳細介紹多種型號圖片
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【溫馨提示】本公司產品因產品種類繁多，詳細配置價格請致電咨詢！[河北潤聯機械公司]——是集科研、開發、制造、經營于一體，的工程試驗儀器專業制造實體。公司主要經營砼混凝土儀器,水泥試驗儀器,砂漿試驗儀器,泥漿試驗儀器,土工試驗儀器,瀝青試驗儀器,公路集料儀器,防水材料儀器,公路巖石儀器,路面試驗儀器,壓力試驗機養護室儀器及實驗室耗材等上百種產品。在以雄厚的技術底蘊在強化自主開發的同時，積極采用國內外先進技術標準，尋求推進與大專院校，科研單位的協作互補，以實現新產品開發的高起點，在交通部、建設部及科研所專家們的指導下，產品不斷完善，不斷更新。已廣泛用于建材，建筑施工，道橋建設，水電工程和機械，交通、石油、化工等領域的質量檢測。并同國內外各試驗儀器廠建立了長期合作關系，嚴把質量關，價格更優惠！公司擁有現代化鋼構倉庫4000多平方米，并配備業內的裝備設施，車輛出入方便，倉庫管理實現標準化、高效化管理，確保儀器設備不斷貨。全球眾多眾多知名試驗儀器及測量、測繪電子廠家直供，國內外一線知名儀器品牌匯聚于此，更是眾多新品上線網購平臺的之地。全國服務隊伍專業快捷服務，完善的呼叫中心服務體系，咨詢熱線：[孫經理0319-8738881]迅速解決客戶問題，專業提供優質高效的售后服務。潤聯為您提供詳細的產品價格、產品圖片等產品介紹信息，您可以直接聯系廠家獲取產品的具體資料，聯系時請說明是在潤聯看到的，并告知型號【關于合作】我們本著精益求精、經銷誠實守信、服務熱情周到的服務宗旨和協助伙伴成就事業從而成就自己的事業的立業精神，為客戶提供卓越的品質和服務。因產品種類多 沒有一一上傳,如有需要,請聯系我們。【關于發貨】我們會在確認合作方式以及合作達成時為您發貨考慮到成本的因素，我們一般采用物流發貨，不過請您放心，因為我們的外地客戶非常之多，基本上我們業務已經覆蓋全國，所以物流公司都是我們精心篩選的，不管是發貨時間，還是價格都是滿意的，同時我們在交付物流公司后將在時間告知客戶，并且我們會將物流費用一并告知發貨打包我們都有專人嚴格檢查商品的質量的，請放心購買。熱門搜索:EMPro 型多入射角激光橢偏儀 EM13 LD系列多入射角激光橢偏儀 EX2自動橢圓偏振測厚儀 EMPro-PV 型多入射角激光橢偏儀（光伏專用） EM01-RD 多入射角激光橢偏儀 ES01 快速攝譜式自動變角度光譜橢偏儀 【凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測量儀|的詳細介紹一共有★★30★★多種型號以上只顯示1-3種型號，如沒有合適您的產品請咨詢 河北潤聯機械公司】凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測量儀|的詳細介紹多種型號內容型號:JX200096EM13 LD系列多入射角激光橢偏儀![]()
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200096.htmlEM13 LD系列多入射角激光橢偏儀型號:JX200090EX2自動橢圓偏振測厚儀![]()
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200090.htmlEX2自動橢圓偏振測厚儀型號:JX200087ES01 快速攝譜式自動變角度光譜橢偏儀![]()
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200087.htmlES01 快速攝譜式自動變角度光譜橢偏儀![]()
凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測量儀|的詳細介紹【河北潤創科技開發有限公司】河北誠信民營企業單位★★專業售后為您服務★★安全放心購物企業★★機械行業品牌★★河北暢銷工業品品牌★★撥打電話請告訴我產品訂貨號，熱線：【孫經理0319-8738881】【關于合作】我們本著精益求精、經銷誠實守信、服務熱情周到的服務宗旨和協助伙伴成就事業從而成就自己的事業的立業精神，為客戶提供卓越的品質和服務。因產品種類多 沒有一一上傳,如有需要,請聯系我們。【關于發貨】我們會在確認合作方式以及合作達成時為您發貨考慮到成本的因素，我們一般采用物流發貨，不過請您放心，因為我們的外地客戶非常之多，基本上我們業務已經覆蓋全國，所以物流公司都是我們精心篩選的，不管是發貨時間，還是價格都是滿意的，同時我們在交付物流公司后將在時間告知客戶，并且我們會將物流費用一并告知發貨打包我們都有專人嚴格檢查商品的質量的，請放心購買。聯系方式:劉經理電話:0319-8318708QQ:2851558308
| 型號:JX200096EM13 LD系列多入射角激光橢偏儀 | 型號:JX200090EX2自動橢圓偏振測厚儀 | 型號:JX200087ES01 快速攝譜式自動變角度光譜橢偏儀 |
EM13LD 系列是采用量拓科技先進的測量技術，針對普通精度需求的研發和質量控制領域推出的多入射角激光橢偏儀。 EM13LD系列采用半導體激光器作為光源，可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準確測量。可用于測量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數k；也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k；亦可用于實時測量納米薄膜動態生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數k。多入射角度設計實現了納米薄膜的厚度測量。 EM13LD系列采用了量拓科技多項專利技術。特點：次納米的高靈敏度國際先進的采樣方法、穩定的核心器件、高質量的制造工藝實現并保證了能夠測量極薄納米薄膜，膜厚精度可達到0.5nm。3秒的快速測量國際水準的儀器設計，在保證精度和準確度的同時，可在3秒內快速完成一次測量，可對納米膜層生長過程進行測量。簡單方便的儀器操作用戶只需一個按鈕即可完成復雜的材料測量和分析過程，數據一鍵導出。豐富的模型庫、材料庫方便用戶進行高級測量設置。應用：EM13LD系列適合于普通精度要求的科研和工業環境中的新品研發或質量控制。EM13LD系列可用于測量單層或多層納米薄膜層構樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數k；可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k；可用于實時測量快速變化的納米薄膜的厚度、折射率n和消光系數k。EM13LD可應用的納米薄膜領域包括：微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等。可應用的塊狀材料領域包括：固體（金屬、半導體、介質等），或液體（純凈物或混合物）。技術指標:
注：(1)測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續測量30次所計算的標準差。 性能保證:穩定性的半導體激光光源、先進的采樣方法，保證了穩定性和準確度高精度的光學自準直系統，保證了快速、高精度的樣品方位對準穩定的結構設計、可靠的樣品方位對準，結合先進的采樣技術，保證了快速、穩定測量分立式的多入射角選擇，可應用于復雜樣品的折射率和厚度的測量一體化集成式的儀器結構設計，使得系統操作簡單、整體穩定性提高，并節省空間一鍵式軟件設計以及豐富的物理模型庫和材料數據庫，方便用戶使用 可選配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標片 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標片 VP01真空吸附泵 VP02真空吸附泵 樣品池
EX2自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）橢偏測量原理，針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款自動測量型教學儀器。EX2儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。EX2儀器還可用于同時測量塊狀材料（如，金屬、半導體、介質）的折射率n和消光系數k。特點經典消光法橢偏測量原理 儀器采用消光法橢偏測量原理，易于理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式 采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。緊湊的一體化結構 集成一體化設計，簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連，方便使用。高準確性的激光光源 采用激光作為探測光波，測量波長準確度高。豐富實用的樣品測量功能 可測量納米薄膜的膜厚和折射率；塊狀材料的復折射率、樣品反射率、樣品透過率。便捷的自動化操作 儀器軟件可自動完成樣品測量，并可進行方便的測量數據分析、儀器校準等操作。安全的用戶使用權限管理 軟件中設置了用戶使用權限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用。可擴展的儀器功能 利用本儀器，可通過適當擴展，完成多項偏振測量實驗，如馬呂斯定律實驗、旋光測量實、旋光等。應用EX2適合于教學中單層納米薄膜的薄膜厚度測量，也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數k。EX2可測量的樣品涉及微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領域。技術指標
注：(1)測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續測量30次所計算的標準差。性能保證ISO9001國際質量體系下的儀器質量保證專業的橢偏測量原理課程 專業的儀器使用培訓
| 項目 | 技術指標 |
| 儀器型號 | EX2 |
| 測量方式 | 自動測量 |
| 樣品放置方式 | 水平放置 |
| 光源 | He-Ne激光器，波長632.8nm |
| 膜厚測量重復性* | 0.5nm (對于Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 膜厚范圍 | 透明薄膜：1-4000nm 吸收薄膜則與材料性質相關 |
| 折射率范圍 | 1.3 – 10 |
| 探測光束直徑 | Φ2-3mm |
| 入射角度 | 30°-90°，精度0.05° |
| 偏振器方位角讀數范圍 | 0-360° |
| 偏振器步進角 | 0.014° |
| 樣品方位調整 | Z軸高度調節：16mm 二維俯仰調節：±4° |
| 允許樣品尺寸 | 樣品直徑可達Φ160mm |
| 配套軟件 | * 用戶權限設置 * 多種測量模式選擇 * 多個測量項目選擇 * 方便的數據分析、計算、輸入輸出 |
| 外形尺寸 | 約400*400*250mm |
| 儀器重量（凈重） | 約20Kg |
| 選配件 | * 半導體激光器 |
ES01是針對科研和工業環境中薄膜測量推出的高精度全自動光譜橢偏儀，系列儀器的波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。
ES01系列光譜橢偏儀用于測量單層和多層納米薄膜的層構參數（如，厚度）和物理參數（如，折射率n、消光系數k），也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數k。
ES01系列光譜橢偏儀適合于對樣品進行實時和非實時檢測。
特點：- 原子層量級的檢測靈敏度 國際先進的采樣方法、高穩定的核心器件、高質量的設計和制造工藝實現并保證了能夠測量原子層量級的納米薄膜，膜厚精度達到0.05nm。
- 秒級的快速測量 快速橢偏采樣方法、高信噪比的信號探測、自動化的測量軟件，在保證高精度和準確度的同時，10秒內快速完成一次全光譜橢偏測量。
- 一鍵式儀器操作 對于常規操作，只需鼠標點擊一個按鈕即可完成復雜的測量、建模、擬合和分析過程，豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的高級操作需求。
ES01系列尤其適合于科研和工業產品環境中的新品研發。
ES01系列多種光譜范圍可滿足不同應用場合。比如：
- ES01V適合于測量電介質材料、無定形半導體、聚合物等的實時和非實時檢測。
- ES01U適合于很大范圍的材料種類，包括對介質材料、聚合物、半導體、金屬等的實時和非實時檢測，光譜范圍覆蓋半導體的臨界點，這對于測量和控制合成的半導體合金成分非常有用。并且適合于較大的膜厚范圍（從次納米量級到10微米左右）。
ES01系列可用于測量光面基底上的單層和多層納米薄膜的厚度、折射率n及消光系數k。應用領域包括：微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁介質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等。典型應用如：
- 半導體：如：介電薄膜、金屬薄膜、高分子、光刻膠、硅、PZT膜，激光二極管GaN和AlGaN、透明的電子器件等）；
- 平板顯示：TFT、OLED、等離子顯示板、柔性顯示板等；
- 功能性涂料：增透型、自清潔型、電致變色型、鏡面性光學涂層，以及高分子、油類、Al2O3表面鍍層和處理等；
- 生物和化學工程：有機薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子層、薄膜吸附、表面改性處理、液體等。
ES01系列也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數k。應用領域包括：固體（金屬、半導體、介質等），或液體（純凈物或混合物）。典型應用包括：
- 玻璃新品研發和質量控制等。
| 項目 | 技術指標 |
| 光譜范圍 | ES01V：370-1000nm ES01U：245-1000nm |
| 光譜分辨率 | 1.5nm |
| 單次測量時間 | 典型10s,取決于測量模式 |
| 準確度 | δ(Psi): 0.02 ° ,δ(Delta): 0.04° （透射模式測空氣時） |
| 膜厚測量重復性（1） | 0.05nm (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 折射率精度（1） | 1x10-3 (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 入射角度 | 40°-90°自動調節，重復性0.02° |
| 光學結構 | PSCA（Δ在0°或180°附近時也具有極高的準確度） |
| 樣品臺尺寸 | 可放置樣品尺寸：直徑170 mm |
| 樣品方位調整 | 高度調節范圍：0-10mm |
| 二維俯仰調節：±4° | |
| 樣品對準 | 光學自準直顯微和望遠對準系統 |
| 軟件 | •多語言界面切換 |
| •預設項目供快捷操作使用 | |
| •安全的權限管理模式（管理員、操作員） | |
| •方便的材料數據庫以及多種色散模型庫 | |
| •豐富的模型數據庫 | |
| 選配件 | 自動掃描樣品臺 聚焦透鏡 |
注：(1)測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續測量30次所計算的標準差。
可選配件：
- NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標片
- NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標片
- VP01真空吸附泵
- VP02真空吸附泵
- 樣品池
美國GE CL5手持式超聲波測厚儀 精密厚度測量儀應用領域
美國GE CL5手持式超聲波測厚儀 精密厚度測量儀應用領域
【產品名稱】手持式超聲波測厚儀
【產品規格】CL5
美國GE CL5手持式超聲波測厚儀產品簡介：
cL5精密測厚儀具有功能面、使用簡便、體積小巧和結構牢固的優點。位于顯示屏正下方的3個軟鍵啟動所顯示菜單上的各種功能。利用四個方向鍵可以簡單而高效地切換菜單和瀏覽文本輸入畫面。圖形顯示為用戶提供了6種不同的操作模式。用戶可以在常規、小值掃描、值掃描、差值/減薄率、厚度+A掃描(選件)或聲速測試(選件)中進行選擇。CL 5采用可編程數據記錄器，可以方便在電腦上設置數據文件。SD卡存儲系統將所有數據記錄和設置信息存儲在可拆卸SD存儲卡上。將測厚儀直接插入電腦后，文件的格式允許進行拖放操作。其它數據，比如數碼照片，也可以存儲在同張SD卡上。
美國GE CL5手持式超聲波測厚儀功能特點：
高測量性能提供具有高度穩定性和可重復性的厚度值- 六種測量和顯示模式：常規、小厚度捕獲、厚度捕獲、差值和減薄率、聲速測試(要求配有CL 5V選項)和厚度+A掃描(要求配有實時A掃描選項)- 所有型號都具有A掃描快照功能- 空心/實心厚度值指示耦合或非耦合狀態- 可視LED報警提醒用戶測量超出了用戶可以選擇的限值。- 用于特殊配置的客戶參數設置以及快速儀器設置- 靈活的電源系統，可通過標準AA電池或可充電電池組供電。- 多語言用戶界面- 自動超聲波調節性能(增益和閘門控制)- 支持多種類的標準探頭聲速測量選件：CL 5V可測定聲波穿過鑄件、合金或者塑料時的速度，得出所測材料內部組織是否緊密無缺陷。 如可預先將球墨鑄鐵不同球化率百分比(通過金相法)試樣做出，分別測量其不同的聲速值，對鑄件進行批量檢查。實時A掃描選件：CL 5AS可選實時A掃描功能使得用戶可以實時觀察CL 5正在以數字方式測量的回波。觀察實時A掃描可以幫助用戶正確調整探頭和測試件，從而獲得測量值。用戶通過觀察實時A掃描可以確保測量的是正確的回波并且數字值也是正確的。數據記錄器選件：CL 5DR利用數據記錄器選項可以快捷地以文件形式存儲厚度值。用戶可完編程的數據記錄器多可以存儲10000個測量值或者500個帶A掃描的值。可編程數據記錄器可以直接從CL 5鍵盤創建數據記錄器文件， 或者利用靈活的UltraMATELite或UltraMATE軟件程序通過電腦創建。數據記錄器支持字母數字文件名、標準線性和網格文件以及自定義線性文件。擴充了的文件類型存儲每測量點的厚度值、聲速設置以及其它關鍵數據。CL5 和 UltraMATE起構成了完美的測試數據管理系統。
美國GE CL5手持式超聲波測厚儀應用領域：CL 5是個使用簡便的精密厚度測量工具，主要用于汽車、航空和航天工業中的零部件，尤其是以下材料：- 鑄造和沖壓金屬元件，比如鋁、鋼、銅- 青銅制成的元件- 機加工工件- 化學蝕刻元件- 金屬條，金屬板- 塑料和復合材料- 玻璃CL5可以單手握持并置于平坦工件上，是測量材料厚度和檢查鋼板腐蝕的為小巧的儀器。
美國GE CL5手持式超聲波測厚儀應用領域：CL 5是個使用簡便的精密厚度測量工具，主要用于汽車、航空和航天工業中的零部件，尤其是以下材料：- 鑄造和沖壓金屬元件，比如鋁、鋼、銅- 青銅制成的元件- 機加工工件- 化學蝕刻元件- 金屬條，金屬板- 塑料和復合材料- 玻璃CL5可以單手握持并置于平坦工件上，是測量材料厚度和檢查鋼板腐蝕的為小巧的儀器。美國GE CL5手持式超聲波測厚儀參數規格：
| 測量范圍 | 0.13至500毫米，取決于所用探頭、所測材料、表面狀況及溫度 |
| 單位和測量分辨率 | 0.001/0.01/0.1mm |
| 材料聲速范圍 | 1000～19999 m/s |
| 接收器 | 帶寬為1.0至16MHz@-6dB |
| 更新率 | 用戶可在MinCap和MaxCap下模式下選擇4、8、32Hz。 |
| 顯示器類型 | 64×128像素LCD， 40×57毫米，具有背景照明，可調節對比度 |
| 厚度顯示 | 5位顯示，在標準模式下具有0.75英寸數字高度，在厚度+A掃描模式下具有0.25英寸數字高度，實心或空心數字耦合狀態指示器，射頻模式下A掃描視圖。 |
| 顯示模式 | 厚度(包括A掃描快照) 厚度+實時A掃描(可選) 小值捕獲和值捕獲 壁厚減薄差值和比率 聲速模式(可選) |
| 管理員鎖定 | 為校準、設置和數據記錄器而通過字母數字密碼進行鎖定。 |
| I/O端口 | 雙向串行RS-232，波特率1200，9600，57600和115200 |
| 數據記錄器 | 可編程數據記錄器，每張64 MB SD卡上多120個文件(可選) |
| 文件格式 | 通過儀表鍵盤創建的網格。接受來自UltraMATE軟件創建的網格或用戶定義線性文件 |
| 電源 | 3節AA電池(堿性、鎳氫或鎳鎘電池)或可充電電池組 |
| 環保密封 | 外殼用耐沖擊、防塵和防濺型密封圈密封，符合IP65 |
| 重量尺寸 | 420克，帶電池。180x94x46毫米 |
| 溫度范圍 | 工作溫度-10～60℃，存放溫度：-20～70℃ |
| 工作語言 | 中文、英語、德語、法語、西班牙語、意大利語、俄語、日語 |
| 應用軟件 | UltraMATELite和UltraMATE(可選) |
美國GE CL5手持式超聲波測厚儀 精密厚度測量儀應用領域美國GE CL5手持式超聲波測厚儀 精密厚度測量儀應用領域
公司簡介：迪圖（上海）生物科技有限公司于2007年始組建實驗室儀器配套儀器、MRO工業品等產品線下供應體系，于2009年正式推出線上采購運行平臺。迪圖（上海）生物科技有限公司作為上海較早從事MRO工業品和實驗室儀器儀表的企業，其實力雄厚、管理科學、質量可靠，售后完備、信譽至上。公司在產品供應體系上具有卓越優勢，擁有國內外眾多知名工業領域產品的中國區權限和支優秀國際采購團隊，多年來以專業的能力態度為國內外客戶提供高性價比的工業品及實驗室儀器設備，贏得了數以萬計的合作商的肯定和信任。
960X-STRATA 960 （X熒光鍍層厚度測量儀）
技術參數:
--元素范圍: Ti22 – U92 同時分析層數和元素定量:5層(4層+基體)；最多同時15種元素定量
--X射線激發: 100瓦(50kV-2.0mA)微焦點鎢靶X射線管（可選鉬靶X射線管）
--X射線檢測: 高分辨封氣 (Xe)正比計數器，靈敏度高，可最多裝備3種二次濾光片
--準直器: 單準直器或多準直器系統，準直器系統最多可安裝4種規格的準直器，備有各種規格準直器（0.015mm-0.5mm)圓形或矩形供客戶選用
--數字脈沖處理器: 4096通道數字多道分析器,包含自動波譜校正和Pulse Pile Rejection功能
--樣品臺: 程控XYZ軸:300 x 200 x 230mm
手動XY軸：250 x 250mm＋230mm程控Z軸
固定位置樣品臺，最大高度230 mm
--CCD系統: 1/2" CMOS-640X480 VGA resolution鏡頭標準為15倍，可選購40倍或由軟件放大X1、X2、X3、X4 激光自動對焦
--自由距離測量DIM: 在12.7~88.9mm自由聚焦范圍內可聚焦樣品表面任意測量點，并有自動雷射聚焦功能
--統計報表功能: 平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、量測點數、控制上線圖、控制下線圖、CP、CPK數據分組、X-bar/R圖、直方圖
數據儲存功能統計報告軟件允許用戶自行設計報表 (另可選購Excel 輸出功能)
--電源: 85-130V或者215-265V、頻率47-63Hz
--工作環境: 10－40℃、相對濕度小于98%，無冷凝水
--儀器尺寸: H744 x W686 x D813
--重量: 160公斤
CHD陶瓷磚厚度測量儀（天辰偉業）
CHD型陶瓷磚厚度測量儀（以下簡稱測厚儀）是用于測量普通量具無法測量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器，也可用于測量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）產品厚度的測量。該測厚儀采用百分表進行測量，具有精度高、讀數、操作簡便、攜帶方便等優點，是有關生產廠家與質檢單位的良好儀器。
主要技術參數
1.測厚儀的精度：±0.1mm
天津天辰偉業科技有限公司是集科研、開發、生產與經營為一體化的高科技實體。主要產品有混凝土、水泥、土工、瀝青、CA砂漿、門窗檢測、壓力試驗機、環境監測我們可為公路、鐵路、橋梁、攪拌站、市政、大專院校、工程質量檢測中心提供全套試驗儀器與檢測儀器設備。我公司對售出的任何儀器實行一年內保修，三個月內有質量問題包換，終身維修，并且負責送貨上門，安裝調試和指導用戶使用。
X射線熒光鍍層厚度測量儀
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現了對CMI900/950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定最多5層、15種元素。數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為： 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規格的樣品臺供用戶選用，分別為： 全程控樣品臺：XYZ三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現測定點自動編程控制。 Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。CMI900/950主要技術規格如下：No. 主要規格 規格描述1 X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘2 濾光片程控交換系統 根據靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創探測器窗口3 準直器程控交換系統 最多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制多種規格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等4 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)5 X射線探測系統 封氣正比計數器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路6 樣品室 CMI900 CMI950－樣品室結構 開槽式樣品室 開閉式樣品室－最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm－XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm任選：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm 300mm x 300mm－Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mmXY軸手動時，269.2mm－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制－樣品觀察系統 高分辨、彩色、實時CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。激光輔助光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能7 計算機系統配置 IBM計算機：1.6G奔騰IV處理器，256M內存，1.44M軟驅，40G硬盤，CD-ROM，鼠標，鍵盤，17寸彩顯，56K調制解調器。惠普或愛普生彩色噴墨打印機。8 分析應用軟件 操作系統：Windows2000中文平臺中文分析軟件包：SmartLink FP軟件包－測厚范圍 可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。請告訴牛津儀器您的具體應用，我們將列表可測定的厚度范圍－基本分析功能 無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍：Ti22 – U92可同時測定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時，可同時測定15種元素多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析－調整和校正功能 系統自動調整和校正功能：校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結果的影響，自動消除系統漂移譜峰計數時，峰漂移自動校正功能譜峰死時間自動校正功能譜峰脈沖堆積自動剔除功能標準樣品和實測樣品間，密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計算－測量自動化功能(要求XY程控機構) 鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式測量位置預覽功能激光對焦和自動對焦功能－樣品臺程控功能(要求XY程控機構) 設定測量點One or Two Datumn (reference) Points on each file測量位置預覽(圖表顯示)－統計計算功能 平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖數據分組、X-bar/R圖表直方圖數據庫存儲功能－系統安全監測功能 Z軸保護傳感器樣品室門開閉傳感器操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師－任選軟件 統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量材料鑒別和分類檢測材料和合金元素分析貴金屬檢測，如Au karat評價
MTSY-8型北京陶瓷磚厚度測量儀價格，陶瓷磚厚度測量儀廠家
MTSY-8型陶瓷磚厚度測量儀產品用途
陶瓷磚厚度測量儀用于測量普通量具無法測量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器，也可用于測量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）產品厚度的測量。產品特點該測厚儀采用百分表進行測量，具有精度高、讀數、操作簡便、攜帶方便等優點，是有關生產廠家與質檢單位的良好儀器。參數規格
陶瓷磚厚度測量儀技術參數
1.測厚儀的精度：±0.1mm
2.測厚儀的測量范圍：
| 規 格 | 最大測量范圍（長×寬） | 最大測量厚度 |
| CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
| CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
北京藍航智晟試驗儀器有限公司堅持“質量，信譽至上”的經營理念，一心為用戶做好產品售前、售中、售后服務工作，真誠對待每一位客戶。所售產品一年內免費保修，終身維護，以的產品、良好的信譽，周到的服務得到新老用戶的信任。北京藍航智晟試驗儀器有限公司熱誠歡迎各界朋友前來參觀、考察、洽談業務。我公司堅持以人為本，以質量為的原則，為我國建筑檢測行業貢獻出我們進的技術產品！
北京藍航智晟試驗儀器有限公司鄭重：一、售前服務;1、顧客通過電話咨詢、網站查詢、廣告等了解北京藍航智晟試驗儀器有限公司的基本情況。2、顧客通過電話、傳真、郵件等方式向北京藍航智晟試驗儀器有限公司銷售部咨詢更多產品情況。3、北京藍航智晟試驗儀器有限公司銷售部熱情接受客戶咨詢及技術交流，為其提供方案咨詢、產品選型、專業采購、行業動態等各種完善的服務。二、售中服務 1、物流部門及時安排發貨，貨物準時、安全運達。 2、需上門安裝、調試的設備產品，公司派技術人員到現場指導、安裝，培訓操作人員直到達標，顧客滿意為止。三、售后服務 1、整機保修一年（易耗品除外），終身維護，快捷迅速為客戶提供所需配件（人為原因除外）。2、建立客戶檔案，對客戶實行跟蹤服務。定期回訪。3、定期培訓。凡本公司經銷商或客戶，因產品升級或新品上市，我公司將根據具體情況隨時安排各種形式統一培訓，或上門指導。
北京藍航智晟試驗儀器有限公司儀器使用注意事項：
1. 使用該儀器時，要認真閱讀技術說明書，熟悉技術指標、工作性能、使用方法、注意事項，嚴格遵照儀器使用說明書的規定步驟進行操作。2. 初次使用 人員，必須在熟練人員指導下進行操作，熟練掌握后方可進行獨立操作。
3. 實驗時使用的儀器設備及器材，要布局合理，擺放整齊，便于操作，觀察及記錄等。4. 設備通電前，確保供電電壓符合儀器設備規定輸入電壓值，配有三線電源插頭的儀器設備，必須插入帶有保護接地供電插座中，安全。
LS-3葉片厚度儀 LS-3植物葉片厚度測量儀
名 稱:葉片厚度儀
型 號：LS-3
品 牌：綠博
產 地：浙江
優惠價格：1200元
LS-3葉片厚度儀產品特點：
葉片是植物最重要的器官，其形態變化可以反映出植物生長狀態的變化，如光合作用、水分情況、養分情況等。研究表明，葉片厚度變化具有周期規律性，可分為長周期和短周期（24小時）。掌握這些規律對研究植物水分狀態具有重要意義。
通常的灌溉系統是以空氣的溫度、濕度以及土壤的濕度作為控制參數，屬于開環控制。針對這一問題，提出了以植物的器官(葉片、莖桿、果實)的幾何參數為控制參數的智能節水灌溉控制系統，屬于閉環控制。
LS-3葉片厚度儀技術參數：
測量范圍：0－－10mm
分 辨 率：0.01mm
精 度：0.015mm
接觸面積：Φ10mm
讀取裝置：指針
如需了解更多詳情請聯系廣州航信科學儀器有限公司，來電價格有優惠
該產品本公司免費承擔至全國各地（僅限物流公司可到達網絡點）的運輸費用，不含送貨上門；如需送貨上門，根據貴單位所在具體地址另行收費，偏遠地區請先至電。本公司銷售產品保修一年，終身維護。
LYT-2008油漆厚度測量儀
1.本儀器符合以下標準GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測量（磁性方法）2.特點便攜設計，手掌大小采用高速的DSP芯片，具有快速的測量能力人性化設計，簡單操作。兩種校準方式：零點校準和二點校準寬角度LCD液晶顯示公制和英制單位轉換具有電源欠電壓提示操作過程有蜂鳴聲提示具有自動關機功能3.測量原理本儀器采用磁性法，當測頭與覆層接觸時，測頭與磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆層的存在，使磁路磁阻發生變化，通過測量其變化量，可測得其覆層的厚度。二、油漆厚度測量儀技術參數1.測量范圍：0-1200um2.工作電源：兩節五號電池3.分辨率：0.1um/1um（100um以下為0.1um）4.測量精度誤差：零點校準 ±（1.5+3%H）；二點校準±【（1%～3%H）】H+1.55.公英制轉換：um/mil轉換6.環境溫度:-10-40℃7.相對濕度:≤85%8.最小基體:10*10mm9.最小曲率:凸5mm;凹5mm10.最薄基體：0.4mm11.重量：99克（含電池）12尺寸：102mm*66mm*24mm
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